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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:江蘇微米工業(yè)CT探測(cè),工業(yè)CT
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詳細(xì)說(shuō)明
phoenix v|tome|x s
——-應(yīng)用案例展示:
塑料工程
在塑料工程中,高分辨率的X射線技術(shù)用于通過(guò)探測(cè)縮孔、水泡、焊接線和裂縫并分析缺陷來(lái)優(yōu)化鑄造和噴涂過(guò)程。 X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)提供具有以下物體特點(diǎn)的三維圖像:如晶粒流模式和填料分布,以及低對(duì)比度缺陷。
鑄造失效分析后噴鑄齒輪的微焦距計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)圖像。沿齒處材料***集中,縮孔已經(jīng)形成。顏色指示縮孔的大小。
傳感器和電氣工程
在傳感器和電子元件的檢測(cè)中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無(wú)需拆卸設(shè)備,江蘇微米工業(yè)CT探測(cè)。
1.4毫米壓接高度的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct) 壓接。為確定單線的數(shù)量和壓接密度,生成了入口區(qū),江蘇微米工業(yè)CT探測(cè),出口區(qū)和壓接區(qū)本身(綠色)的3個(gè)層析層: 19股線進(jìn)入,江蘇微米工業(yè)CT探測(cè),但只有17股線退出壓接區(qū)。
由于缺乏材料,壓接區(qū)內(nèi)形成了小空洞。
直接在CT數(shù)據(jù)上自動(dòng)定位面積不足或壁厚過(guò)后及間隙過(guò)大的位置。測(cè)量功能:可直接在CT數(shù)據(jù)對(duì)試件進(jìn)行測(cè)量。江蘇微米工業(yè)CT探測(cè)seifert x-cube---易于使用
帶有教與學(xué)性能的直觀的用戶指南使新的X-cube非常易于操作。 新的檢測(cè)程序也很容易輸入,并可于不到30秒內(nèi)落實(shí)到位。
低運(yùn)營(yíng)成本
需要非常小的占地面積和即插即用安裝,因其***性密封齒輪箱,X-cube也只需很少的維護(hù)。 它是完全電動(dòng)的,無(wú)需氣動(dòng)或液壓。
CT性能下的******
組合的二維/三維(計(jì)算機(jī)斷層掃描)操作所用的新的可選升級(jí)包將X-cube轉(zhuǎn)換成一個(gè)多功能試驗(yàn)機(jī),使用三維錐形束CT進(jìn)行詳細(xì)的X射線檢測(cè)。 該采集,容積重建和可視化軟件運(yùn)行于集成計(jì)算機(jī)平臺(tái),并提供了依樣本大小而定的約0.1毫米的詳細(xì)分辨率。 江蘇微米工業(yè)CT探測(cè)CT技術(shù)之 - 壁厚分析功能。
phoenix microme|x
—— 高分辨率的微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),主要設(shè)計(jì)用于焊點(diǎn)和電子元件的實(shí)時(shí)X射線檢測(cè)
它將高分辨率的二維X射線技術(shù)和計(jì)算機(jī)斷層掃描結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中,同時(shí)具有創(chuàng)新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質(zhì)量,可以用于故障分析實(shí)驗(yàn)室以及生產(chǎn)車(chē)間。它配備了phoenix|X射線專(zhuān)有的圖像處理軟件,用于PCB裝配的自動(dòng)檢測(cè),提供更高的缺陷覆蓋率,同時(shí)提高了生產(chǎn)效率。通過(guò)菱形|窗口(可選)以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集
Seifert x|blade:
是一種易于使用的無(wú)損 (NDT) X 射線檢測(cè)系統(tǒng),適用于鑄件,具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和大體積通過(guò)能力。它將對(duì)待測(cè)部件的機(jī)器人***、成像鏈(可對(duì)成像鏈進(jìn)行定制以滿足特定需求)與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體,從而提供快速、靈活的檢測(cè)及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測(cè)科技業(yè)務(wù)部門(mén)的產(chǎn)品之一,用于幫助客戶從膠片式的***成像技術(shù)過(guò)渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。符合 DICONDE 要求的解決方案,配有用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和保留的數(shù)種選件,利用查詢(xún)功能可查詢(xún)所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段 葉片三維CT壁厚測(cè)量。
phoenix x|aminer
———一款操作簡(jiǎn)便的入門(mén)級(jí)X射線檢測(cè)系統(tǒng), 具有高性能的微焦點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,
專(zhuān)為半導(dǎo)體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測(cè)要求而設(shè)計(jì). 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測(cè)器, 比圖像增強(qiáng)器具有更好的信噪比, 清晰度和實(shí)時(shí)成像能力, 并可選CT功能. 系統(tǒng)提供了功能強(qiáng)大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動(dòng)檢測(cè)和編程自動(dòng)檢測(cè);
無(wú)使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件
可選高對(duì)比度CMOS平板探測(cè)器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測(cè)能力
工業(yè)CT找英華檢測(cè)(上海)有限公司。天津微米工業(yè)CT銷(xiāo)售金屬泡沫處理過(guò)的CT圖像清晰地顯示了泡沫表面的凹槽。江蘇微米工業(yè)CT探測(cè)
phoenix nanome|x 主要功能
通過(guò)***的雙向檢波器技術(shù)(數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測(cè)器)獲取的清晰的活動(dòng)影像
高放大倍率
***的操作
高度的可再現(xiàn)性
180千伏/ 15 W高功率開(kāi)放納米焦點(diǎn)管具有高達(dá)200納米的細(xì)節(jié)探測(cè)能力
可升級(jí)到 nanoCTò
可選:
x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動(dòng)X射線檢測(cè)(?AXI),以達(dá)到極高的缺陷覆蓋率,具有高放大倍率和可再現(xiàn)性
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器與主動(dòng)冷卻獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的活動(dòng)檢測(cè)影像
10秒內(nèi)的三維計(jì)算機(jī)斷層掃描
通過(guò)菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集 江蘇微米工業(yè)CT探測(cè)
英華檢測(cè)(上海)有限公司成立于2014-03-06,是一家貿(mào)易型的公司。上海英華檢測(cè)致力于為客戶提供質(zhì)量的工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測(cè),,,一切以用戶需求為中心,深受廣大客戶的歡迎。公司注重以質(zhì)量為中心,以服務(wù)為理念,秉持誠(chéng)信為本的理念,打造儀器儀表質(zhì)量品牌。公司秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念,全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。
文章來(lái)源地址: http://www.cdcfah.com/cp/1060750.html
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