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    江蘇薄膜相位差測量儀 蘇州千宇光學科技供應(yīng)

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    價格要求:面議

    所在地:江蘇省

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    產(chǎn)品關(guān)鍵詞:江蘇薄膜相位差測量儀,相位差測量儀

    ***更新:2020-09-01 12:09:16

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    公司基本資料信息

    蘇州千宇光學科技有限公司

    聯(lián)系人:密先生

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    詳細說明

    相位差測量 兩個正弦電量可以是電壓和電流,或者一個是電壓,一個是電流等,對應(yīng)點通常是從負到正的過零點,江蘇薄膜相位差測量儀,相當于正弦電函數(shù)的初始相位角。相位差的單位是度或弧度,正負號表示超前或滯后關(guān)系。一種 由于被測相位差正弦電量的頻率范圍很寬,所以通常根據(jù)頻率選擇測量方法和儀器。常用的方法有直接法和間接法。一種 直接法:用指針式相位計、數(shù)字相位計等**儀器或用負示波器測量相位差。當使用陰極示波器時,江蘇薄膜相位差測量儀,將兩個相同頻率的正弦電壓信號分別加到示波器的X軸和Y軸上,江蘇薄膜相位差測量儀。然后兩個正弦電壓之間的相位差為∮=電弧正弦(B/α)。相位差測試儀:拉伸膜相位差測試儀 。江蘇薄膜相位差測量儀

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    相位差測試儀的發(fā)展與現(xiàn)狀

    相位測量技術(shù)的研究由來已久,**早的研究和應(yīng)用是在數(shù)學的矢量分析和物理學的圓周運動以及振動學方面,隨之在電力部門、機械部門、航空航天、地質(zhì)勘探、海底資源等方面也相應(yīng)得到重視和發(fā)展。隨著電子技術(shù)和計算機技術(shù)的發(fā)展,相位測量技術(shù)得到了迅速的發(fā)展,目前相位測量技術(shù)已較完善,測量方法及理論也比較成熟,相位測量儀器已系列化和商品化。現(xiàn)代相位測量技術(shù)的發(fā),展可分為三個階段:***個階段是早期采用的諸如阻抗法、和/差法、三電壓法、對比法和平衡法等,雖方法簡單,但測量精度較低,第二階段是利用數(shù)字



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    性能可靠:對正弦/三角/梯形波/方波的相位差進行精密測量;高度集成,精度高;參數(shù)指標:輸入信號波形正弦/三角/梯形波/方波輸入阻抗1MΩ相位范圍0°to360°or±180°頻率范圍10Hz~99Hz幅度范圍~250V分六個量程,自動選擇量程測量精度相位測量精度±1°(典型值正弦波:10Hz-99Hz)相位分辨率°相位重復(fù)性±°或更好頻率測量精度±頻率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、環(huán)境特性工作溫度0℃~+50℃相對濕度≤90%(40℃)存儲溫度-30℃~+70℃供電電源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W機箱尺寸3U,19″標準機箱(上機架)482mm(寬)x370(深)x150mm(高)測相位差原理分析一般測量相位差有如下兩種方法:方法1::將兩路同頻不同相的方波信號異或后得到的脈沖寬度t與方波信號的周期T的比值(占空比),即對應(yīng)為兩信號的相位差,如下所示:?異或測量相位差的原理方法2:通過捕獲處理后的兩通道的方波,就可計算出相位。

    來間接的測定信號傳播的時間,從而求得被測距離的。因此,信號相位測量的精度也就決定了測距的精度。相位測量技術(shù)的研究由來已久,**早的研究和應(yīng)用是在數(shù)學的矢量分析和物理學的圓周運動以及振動學方面,隨之在電力部門、機械部門、航空航天、地質(zhì)勘探、海底資源等方面也相應(yīng)得到重視和發(fā)展。隨著電子技術(shù)和計算機技術(shù)的發(fā)展,相位測量技術(shù)得到了迅速的發(fā)展,目前相位測量技術(shù)已較完善,測量方法及理論也比較成熟,相位測量儀器已系列化和商品化。現(xiàn)代相位測量技術(shù)的發(fā)展可分為三個階段:***階段是在早期采用的諸如阻抗法、和/差法、三電壓法、比對法和平衡法等,雖然方法簡單,但測量精度較低;第二階段是利用數(shù)字**電路、微處理器、FPGA/CPLD、DSP等構(gòu)成測相系統(tǒng),使測量精度得以**提高;第三階段是充分利用計算機及智能化虛擬測量技術(shù),從而**簡化設(shè)計程序,增強功能,使得相應(yīng)的產(chǎn)品精度更高、功能更全。同時,各種新的算法也隨之出現(xiàn)。相位測量是正弦信號經(jīng)過不同的時間或不同的網(wǎng)絡(luò)后可以有不同的相位。通常所謂相位測量是指對兩個同頻率信號之間相位差的測量。**常見的是對網(wǎng)絡(luò)輸入與輸出信號的相位差,即網(wǎng)絡(luò)相移的測量。軸角度精度:±0.05°(精度業(yè)內(nèi)比較高)。

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    相位檢測儀器工作原理 數(shù)字相位計一般采用相位-電壓轉(zhuǎn)換法的相位差數(shù)字化測量方法.它測量的是同頻信號的相位差,相位差為φ的兩個同頻信號U1(t)和 U2(t)分別經(jīng)過各自的衰減電路被衰減成為振幅在0.6V到2.0V的基準電壓,然后送至相應(yīng)的整形電路整形為方波,此時對稱調(diào)整電路會對這兩 個信號進行對稱調(diào)整,使得測量結(jié)果更準確,這樣就得到了兩個同頻方波信號,再經(jīng)過鑒相脈沖電路得到一個隨相位差變化而變化的脈沖信號 △t.相位差的數(shù)字化是采用填充計數(shù)法實現(xiàn)的,即用周期為τ的脈沖分別對△t和T進行計數(shù),則相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T為兩個被測信號的周期,n1為△t時間內(nèi)所填充的脈沖個數(shù), n2為T時 間內(nèi)所填充的 脈沖個數(shù)。由于不同的信號電壓大小不同,所以他們需要進入不同的衰減電路,才能保證整個電路的安全和測量的準確性,這就需要一個精確 的自動換程電路.而后續(xù)的信號處理需要--個幅值穩(wěn)定在-一個范圍內(nèi)的基準信號,這就需要通過衰減器來實現(xiàn).測量波段:550nm單波段可升級為380nm~780nm 上料方式:手動上料。江蘇日本大冢相位差測量儀性價比高

    對應(yīng)樣品尺寸:可定制,數(shù)據(jù)輸出:電腦連接。江蘇薄膜相位差測量儀

    相位差測試儀測試小科普:

    1.Q:軸角度是吸收軸角度嗎?

      A:否。①吸收軸角度,是指透過光線在某一方向呈現(xiàn)吸收狀態(tài)(透光率比較低),此光軸跟基準邊的夾角。通常同偏光軸(透過軸)垂直相交。 ②軸角度定義適用于雙折射樣品(產(chǎn)生相位差的樣品),在國際上普遍定義為慢軸與基準邊的夾角。

    2. Q:配向角(取向角)是指軸角嗎?

     A:否。配向角是軸角在垂直方向的投影。當水平放置樣品時,配向角=軸角。當樣品傾斜時,配向角會隨著樣品的翻轉(zhuǎn)而變化,所以在測量配向角時候,需要知道樣品與水平面的夾角。 江蘇薄膜相位差測量儀

    蘇州千宇光學科技有限公司是一家研發(fā)、銷售:光電材料、電子元器件、計算機軟硬件;并提供光電材料、電子元器件、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓;銷售:半導(dǎo)體材料、儀器儀表、電動工具、五金;加工、組裝:自動化設(shè)備、機械設(shè)備;承接:機械工程、上門維修、租賃服務(wù);從事上述產(chǎn)品及技術(shù)的進出口業(yè)務(wù)。(依法須經(jīng)批準的項目。經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動)的公司,是一家集研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。千宇光學科技擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團隊,以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供高低溫光電綜合系統(tǒng),彎折機,,。千宇光學科技繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域,實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。千宇光學科技創(chuàng)始人密振宇,始終關(guān)注客戶,創(chuàng)新科技,竭誠為客戶提供良好的服務(wù)。


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