phoenix v|tome|x s

——應(yīng)用案例展示

三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。然而，江蘇納米工業(yè)CT， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開(kāi)辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

微焦點(diǎn)CT(micro ct)顯示一個(gè)表達(dá)式探針： 箱子的焊縫、壓接連接、探頭的幾何排列、和陶瓷傳感器的情況。

 材料科學(xué)

 高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來(lái)對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析，江蘇納米工業(yè)CT，江蘇納米工業(yè)CT。材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

 玻璃纖維增強(qiáng)塑料制成的物體的nanoCT ®： 玻璃纖維和礦物填料（紫色）的凝聚體的方位和分布都清晰可見(jiàn)。 纖維寬度大約為 10 μm.

根據(jù)巖心內(nèi)部不同成分的原子序數(shù)/密度差異，對(duì)內(nèi)部組分進(jìn)行三維立體成像。江蘇納米工業(yè)CT

phoenix nanotom m

----------測(cè)量

用X射線進(jìn)行的三維測(cè)量是***的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的對(duì)比，對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn)-包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。v|tome|xs有一個(gè)特殊的三維測(cè)量包，其中包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度，可再現(xiàn)且易于使用.除了二維壁厚測(cè)量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

圖為對(duì)氣缸蓋3個(gè)裝置的CAD差異分析和測(cè)量.

江蘇納米工業(yè)CT對(duì)每種形態(tài)的殘余油進(jìn)行定量對(duì)比和分析，并在獲取數(shù)據(jù)后，進(jìn)一步指導(dǎo)對(duì)石油的采收。

v|tome|x L 240------應(yīng)用：

測(cè)量

用X射線進(jìn)行的三維測(cè)量是***的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的對(duì)比，對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測(cè)量包，其中包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度，可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測(cè)量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

v|tome|x L 450

特色：

主要功能

450千伏/ 1500 瓦雙***焦點(diǎn)X射線管 - 專門優(yōu)化以應(yīng)用于CT

    - 以金屬/陶瓷材料設(shè)計(jì)，用于大型和高吸收的樣品的清晰的CT掃描

高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命，通過(guò)長(zhǎng)壽命的|燈絲（可選）確保了長(zhǎng)期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率

通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS（幀每秒）（可選）的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像

 通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建

 通過(guò)點(diǎn)擊并測(cè)量|CT使用datos|x 2.0進(jìn)行高度可重現(xiàn)的三維測(cè)量： 全自動(dòng)化執(zhí)行的CT掃描，重建和分析過(guò)程

滲透率模擬計(jì)算，根據(jù)連通性，計(jì)算巖石滲透率，并動(dòng)態(tài)模擬，展示巖石非均質(zhì)性。

Seifert x|blade：

是一種易于使用的無(wú)損 (NDT) X 射線檢測(cè)系統(tǒng)，適用于鑄件，具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和大體積通過(guò)能力。它將對(duì)待測(cè)部件的機(jī)器人***、成像鏈（可對(duì)成像鏈進(jìn)行定制以滿足特定需求）與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體，從而提供快速、靈活的檢測(cè)及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測(cè)科技業(yè)務(wù)部門的產(chǎn)品之一，用于幫助客戶從膠片式的***成像技術(shù)過(guò)渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。符合 DICONDE 要求的解決方案，配有用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和保留的數(shù)種選件，利用查詢功能可查詢所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段 X射線 - 三維CT案例展示。浙江小焦點(diǎn)工業(yè)CT銷售

高清巖心數(shù)字化CT掃描。江蘇納米工業(yè)CT

phoenix x|aminer

———一款操作簡(jiǎn)便的入門級(jí)X射線檢測(cè)系統(tǒng), 具有高性能的微焦點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備, 

專為半導(dǎo)體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測(cè)要求而設(shè)計(jì). 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測(cè)器, 比圖像增強(qiáng)器具有更好的信噪比, 清晰度和實(shí)時(shí)成像能力, 并可選CT功能. 系統(tǒng)提供了功能強(qiáng)大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動(dòng)檢測(cè)和編程自動(dòng)檢測(cè)；

無(wú)使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件

可選高對(duì)比度CMOS平板探測(cè)器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測(cè)能力

江蘇納米工業(yè)CT

英華檢測(cè)（上海）有限公司總部位于光中路331號(hào)A棟一層A101-A110及B棟一層B106-B110，是一家檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售，工業(yè)設(shè)計(jì)，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，檢測(cè)服務(wù)，自有設(shè)備租賃，工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的維修及安裝，會(huì)務(wù)服務(wù)，商務(wù)咨詢，從事計(jì)算機(jī)科技、檢測(cè)技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的公司。公司自創(chuàng)立以來(lái)，投身于工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測(cè)，，，是儀器儀表的主力軍。上海英華檢測(cè)繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。上海英華檢測(cè)創(chuàng)始人吳夢(mèng)婕，始終關(guān)注客戶，創(chuàng)新科技，竭誠(chéng)為客戶提供良好的服務(wù)。

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