對(duì)于粉塵中的游離二氧化硅含量的測(cè)定目前有焦磷酸法、紅外分光光度法或X射線(xiàn)衍射法。傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室中，出于現(xiàn)有分析設(shè)備和檢測(cè)成本的考量，通常采用焦磷酸法。但該法由于測(cè)定步驟較為繁瑣，在檢測(cè)過(guò)程中存在較多不可控因素，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果精度不甚理想。同時(shí)作為化學(xué)檢測(cè)手段，該方法實(shí)施過(guò)程中涉及酸等一些腐蝕有害的化學(xué)試劑以及酸加熱等危險(xiǎn)操作，給實(shí)驗(yàn)人員的安全帶來(lái)一定風(fēng)險(xiǎn)。另外兩種檢測(cè)方法-紅外分光光度法和X射線(xiàn)衍射法均屬于物理檢測(cè)手段，但相比于紅外分光光度法中涉及的紅外光譜儀，X射線(xiàn)衍射儀具有體積小、分辨率高，淮安衍射儀批發(fā)，淮安衍射儀批發(fā)、操作靈活、數(shù)據(jù)類(lèi)型多，淮安衍射儀批發(fā)、造價(jià)低等相對(duì)優(yōu)勢(shì)。XRD分析儀方便的樣本制備。淮安衍射儀批發(fā)

X射線(xiàn)衍射儀的物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。每種晶體由于其獨(dú)特的結(jié)構(gòu)都具有與之相對(duì)應(yīng)的X射線(xiàn)衍射特征譜,這是X射線(xiàn)衍射物相分析的依據(jù)。將待測(cè)樣品的衍射圖譜和各種已知單相標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射圖譜對(duì)比,從而確定物質(zhì)的相組成。確定相組成后,根據(jù)各相衍射峰的強(qiáng)度正比于該組分含量(需要做吸收校正者除外),就可對(duì)各種組分進(jìn)行定量分析。點(diǎn)陣參數(shù)是物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù),任何一種晶體物質(zhì)在一定狀態(tài)下都有一定的點(diǎn)陣參數(shù)。測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類(lèi)型、測(cè)定固溶體溶解度曲線(xiàn)、測(cè)定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應(yīng)用。點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定是通過(guò)X射線(xiàn)衍射線(xiàn)位置的測(cè)定而獲得的,通過(guò)測(cè)定衍射花樣中每一條衍射線(xiàn)的位置均可得出一個(gè)點(diǎn)陣常數(shù)值。揚(yáng)州衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些測(cè)角儀是衍射儀的重要部分。

X射線(xiàn)衍射儀高壓發(fā)生器的維護(hù)保養(yǎng)，首先要保證儀器有一個(gè)良好的工作環(huán)境。工作環(huán)境要求無(wú)塵、恒溫、防潮、防震、防腐蝕等?；覊m會(huì)造成電路板等接觸不良或絕緣性能變差從而引起各種故障。溫度和濕度非常重要，電子元器件特別是集成電路都要求在合適的溫度和濕度范圍內(nèi)工作，溫度過(guò)高不利于電子元件散熱，會(huì)導(dǎo)致電子元件不正常工作，潮濕的環(huán)境易使儀器的絕緣性能變差，產(chǎn)生短路等不安全的因素，并極易造成器件的生銹以致?lián)p壞，發(fā)生各種故障。應(yīng)定期對(duì)高壓發(fā)生器進(jìn)行除塵，一年進(jìn)行一到兩次的徹底除塵工作，拆開(kāi)下機(jī)柜外蓋，清理掉機(jī)柜內(nèi)部包括電源、電路板等各個(gè)部件的灰塵，以免因灰塵引發(fā)各種電路或信號(hào)故障，有效節(jié)省維修成本和維修時(shí)間，保證儀器的正常運(yùn)行。

X射線(xiàn)衍射儀(接通總電源，打開(kāi)穩(wěn)壓電源的空氣開(kāi)關(guān)和電源開(kāi)關(guān)，按支柱上的綠色開(kāi)機(jī)按鈕，約10秒鐘后指示燈亮，門(mén)自動(dòng)鎖住。然后打開(kāi)水冷箱，待其正常工作后旋轉(zhuǎn)高壓旋鈕，順時(shí)針轉(zhuǎn)45°停駐3-5秒，即可以打開(kāi)，此時(shí)READY指示燈閃爍。（關(guān)高壓只需要將此按鈕逆時(shí)針轉(zhuǎn)45°即可）。打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)啟動(dòng)計(jì)算機(jī)，進(jìn)入XRD?commander?程序，將兩個(gè)角度數(shù)據(jù)初始化(initial?drives)，找到X-ray?選擇on?后x射線(xiàn)打開(kāi)，ready指示燈長(zhǎng)亮。然后軟件調(diào)整電壓計(jì)電流（40kv&40mA），按SET按鈕即開(kāi)始加電壓。此后，把起始和終止的角度設(shè)好，步長(zhǎng)(一般為0.01°/0.02°)設(shè)好，掃描速率和模式（一般為lucked?coupled?模式,即光管臂和探測(cè)臂轉(zhuǎn)動(dòng)的角度是相等的，方向相反），設(shè)好就可以按下START按鈕開(kāi)始測(cè)試，隨時(shí)可以按STOP按鈕停止掃描。?關(guān)機(jī)步驟：軟件降壓至20kv&5mA后按下SET按鈕，然后即可以把軟件關(guān)閉。軟件降壓后才可以把高壓旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45°關(guān)閉。等待十分鐘，待光管散熱后按紅色關(guān)閉按鈕。關(guān)閉水冷機(jī)。X射線(xiàn)衍射儀已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主要方法。

XRD即X-RayDiffraction（X射線(xiàn)衍射）的縮寫(xiě)。X射線(xiàn)衍射是一種通過(guò)儀器進(jìn)行檢測(cè)的光學(xué)分析法，將單色X射線(xiàn)照到粉晶樣品上，若其中一個(gè)晶粒的一組面網(wǎng)取向和入射X射線(xiàn)夾角為θ時(shí)，滿(mǎn)足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。樣品中有多個(gè)晶粒并滿(mǎn)足衍射。通過(guò)使用衍射儀的探測(cè)器以一定的角度繞樣品旋轉(zhuǎn)，接收到粉晶中不同網(wǎng)面、不同取向的全部衍射線(xiàn)，獲得相應(yīng)的衍射圖譜。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段，所需樣品含量大于1%。板織構(gòu)的極點(diǎn)分布比較復(fù)雜，需要兩個(gè)指數(shù)來(lái)表示，且多用衍射儀進(jìn)行測(cè)定 。嘉興衍射儀定制

X射線(xiàn)能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離?；窗惭苌鋬x批發(fā)

X射線(xiàn)衍射儀是物質(zhì)進(jìn)行物相分析的常用儀器之一。由于不同物質(zhì)具有不同的結(jié)構(gòu)，因此具有各自不同的衍射譜線(xiàn)。目前可以根據(jù)表征出來(lái)的晶型結(jié)構(gòu)的衍射譜線(xiàn)，可以確定物質(zhì)中的晶格種類(lèi)；根據(jù)表征出來(lái)的衍射峰的峰強(qiáng)等進(jìn)行物質(zhì)晶型含量的分。通過(guò)X射線(xiàn)衍射儀來(lái)對(duì)鈦白粉的晶型和晶型比例進(jìn)行分析，也對(duì)鈦白粉表面改性劑中包膜物質(zhì)進(jìn)行定性研究，研究鈦白粉產(chǎn)品中雜質(zhì)元素的種類(lèi)。使用的X射線(xiàn)衍射儀的性能及待測(cè)樣品的實(shí)際情況選擇較佳測(cè)試條件，即調(diào)節(jié)光管電流、電壓和狹縫等條件。選擇2°/min或0.02°/步。掃描角度選擇5°≤2θ≤70°。將鈦白粉粉末樣品在樣品盤(pán)上使用平滑的刮片施以一定的壓力將樣品垂直壓緊成型，制成表面平滑的試樣片，放入儀器待測(cè)。在分析測(cè)定完成后，數(shù)據(jù)處理軟件中找到分析樣品的譜線(xiàn)圖，數(shù)據(jù)庫(kù)中找到對(duì)比的圖譜，可以確定樣品中所含有的物質(zhì)?；窗惭苌鋬x批發(fā)

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