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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:江蘇官方反射率測試系統(tǒng),反射率測試系統(tǒng)
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詳細(xì)說明
光學(xué)方法,此法是借助裝在顯微鏡上的視測光度儀來測定礦物的反射率,或在顯微鏡下同一視域中來比較兩種礦物(“標(biāo)準(zhǔn)”與欲測礦物)的反光強度(反射率)。前者稱視測光度法,后者為簡易比較法(視測比較法)。視測光度法主要有裂隙顯微光度儀法和視覺顯微光度儀法等,江蘇官方反射率測試系統(tǒng)。由于均以觀測者的視覺為準(zhǔn),故難免帶有主觀因素,所以精度較差,達不到精度要求,現(xiàn)已被淘汰。在日常的一般鑒定工作中,有時只需知道欲測礦物反射率的大致范圍,即可查表定出礦物時,可采用簡易比較法,江蘇官方反射率測試系統(tǒng)。由于它除顯微鏡外不需專門儀器及附件,操作簡便而易于掌握,江蘇官方反射率測試系統(tǒng)。 漫反射,是投射在粗糙表面上的光向各個方向反射的現(xiàn)象。江蘇官方反射率測試系統(tǒng)
目前我國對于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法仍處于空白狀態(tài),各個單位之間的測試結(jié)果離散性較大,因此迫切需要制定針對于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)規(guī)范,確保測試系統(tǒng)準(zhǔn)確性,保證隱身材料研制過程中的質(zhì)量可靠性,推進隱身材料在武器裝備中的應(yīng)用。
本規(guī)范以JJF1071-2010《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、JJF1001-2011《通用計量術(shù)語及定義》、JJF1059.1-2012《測量不確定度評與表示》為基礎(chǔ)性規(guī)范進行制訂。
在本規(guī)范制訂中,參照了GJB5022-2001《室內(nèi)場縮比目標(biāo)雷達散射截面測試方法》、GJB2038A-2011《雷達吸波材料反射率測試方法》、GJB4238-2001《***目標(biāo)特性和環(huán)境特性》中的部分內(nèi)容。 江蘇官方反射率測試系統(tǒng)由于均以觀測者的視覺為準(zhǔn),故難免帶有主觀因素,所以精度較差,達不到精度要求,現(xiàn)已被淘汰。
漫反射,是投射在粗糙表面上的光向各個方向反射的現(xiàn)象。當(dāng)一束平行的入射光線射到粗糙的表面時,表面會把光線向著四面八方反射,所以入射線雖然互相平行,由于各點的法線方向不一致,造成反射光線向不同的方向無規(guī)則地反射,這種反射稱之為" 漫反射" 或" 漫射"。漫射光是指從光源發(fā)出的光進入樣品內(nèi)部,經(jīng)過多次反射、折射、散射及吸收后返回樣品表面的光,漫反射光測量可用來分析與樣品內(nèi)部分子發(fā)生作用以后的光, 攜帶有豐富的樣品結(jié)構(gòu)和組織信息.與透射光相比,雖然透射光中也負(fù)載有樣品的結(jié)構(gòu)和組織信息,但是透射光的強度受樣品厚度及透射過程光路的不規(guī)則性影響。因此,漫反射(diffuse reflectance) 測量在提取樣品組成和結(jié)構(gòu)信息方面提供了一個直接可靠的分析手段。
蘇州千宇光學(xué)科技有限公司成立于2019年,坐落于蘇州工業(yè)園區(qū),公司主要的經(jīng)營范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、 技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓;光電產(chǎn)品、半導(dǎo)體材料、儀器儀表、自動化設(shè)備、計算 機設(shè)備、辦公設(shè)備、電動工具等;貨物及 技術(shù)的進出口業(yè)務(wù)。 致力于光學(xué)儀器科技事業(yè),我們以科技為先導(dǎo),集各家所長,打造自己的形象。開發(fā)新產(chǎn)品,采用新工藝 為手段,充分發(fā)揮專業(yè)優(yōu)勢,愿與海內(nèi)外同仁進行***的交流合作,熱情歡迎國內(nèi)外人士洽談業(yè)務(wù)。 我們將秉承不斷自我完善,以新科技、高標(biāo)準(zhǔn)、高質(zhì)量來嚴(yán)格管理公司。前兩種由于其靈敏度及準(zhǔn)確性差而被淘汰;光電倍增管顯微光度計其靈敏度高,能測直徑小至0.5 μm面積的光強。
反射測量
反射測量可以用于測量元件的反射率,測量物體的反**色和化學(xué)樣品中的成分信息。
光譜儀:
可以使用高性價比的USB4000光譜儀,覆蓋紫外到可見200-850nm的范圍,或者可見到近紅外350-1000nm的范圍;或覆蓋200-1100nm的HR4000光譜儀。如果您考慮的是紅外波段,可以使用NIRQuest近紅外光譜儀,或者紅外光譜儀。
采樣附件:
測量反射率的時候,必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射,或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。
鏡面反射和漫反射
對于絕大多數(shù)的測量,都可以使用反射探頭的方式來實現(xiàn)。使用QR400-7-UV-NIR反射探頭,一端接光譜儀,一端接光源,探頭的公共端可以通過RPH-1這個探頭支架固定,方便的在樣品表面測量,反射探頭可以在單一方向進行照射和接受,如果是鏡面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。 我們在考慮產(chǎn)品的適用范圍方面增加了對鏡頭透過率測量的考慮,使該設(shè)備具有更深的使用范圍。江蘇官方反射率測試系統(tǒng)
當(dāng)一束平行的入射光線射到粗糙的表面時,表面會把光線向著四面八方反射,所以入射線雖然互相平行。江蘇官方反射率測試系統(tǒng)
反射率測試儀性能指標(biāo):
光學(xué)系統(tǒng):
標(biāo)準(zhǔn)施照體 D65光源 或 A光源
波長范圍:380-780nm
準(zhǔn)直照明,積分球接收,Φ=10mm
接 收 器:符合V(λ)標(biāo)準(zhǔn)值
電子系統(tǒng)
光學(xué)斬波,調(diào)制光源F=300hz,亮場測試
LED數(shù)碼顯示
測量范圍:0~**
精 度:0.1%
準(zhǔn)確率偏差:<1%
穩(wěn) 定 性:±0.1%
設(shè)備尺寸:770*260*280(長*寬*高)
樣品尺寸:100X100mm
微機數(shù)據(jù)處理,多次連續(xù)測試平均值顯示。微機數(shù)據(jù)處理,多次連續(xù)測試平均值顯示。微機數(shù)據(jù)處理,多次連續(xù)測試平均值顯示。
江蘇官方反射率測試系統(tǒng)
蘇州千宇光學(xué)科技有限公司屬于機械及行業(yè)設(shè)備的高新企業(yè),技術(shù)力量雄厚。公司致力于為客戶提供安全、質(zhì)量有保證的良好產(chǎn)品及服務(wù),是一家有限責(zé)任公司企業(yè)。以滿足顧客要求為己任;以顧客永遠(yuǎn)滿意為標(biāo)準(zhǔn);以保持行業(yè)優(yōu)先為目標(biāo),提供高品質(zhì)的高低溫光電綜合系統(tǒng),彎折機,相位差測試儀,軸角度測試儀。千宇光學(xué)科技將以真誠的服務(wù)、創(chuàng)新的理念、高品質(zhì)的產(chǎn)品,為彼此贏得全新的未來!
文章來源地址: http://www.cdcfah.com/cp/2682754.html
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