反射率測試儀性能指標(biāo)：

光學(xué)系統(tǒng)：

標(biāo)準(zhǔn)施照體 D65光源 或 A光源

波長范圍：380-780nm

準(zhǔn)直照明,積分球接收，Φ=10mm

接  收  器：符合V(λ)標(biāo)準(zhǔn)值

電子系統(tǒng)

光學(xué)斬波，調(diào)制光源F=300hz，亮場測試

LED數(shù)碼顯示

測量范圍：0～**

精        度：0.1%

準(zhǔn)確率偏差：<1%

穩(wěn)  定  性：±0.1%

設(shè)備尺寸：770*260*280(長*寬*高)

樣品尺寸：100X100mm

微機(jī)數(shù)據(jù)處理，多次連續(xù)測試平均值顯示。微機(jī)數(shù)據(jù)處理，多次連續(xù)測試平均值顯示，江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)，江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)。微機(jī)數(shù)據(jù)處理，江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)，多次連續(xù)測試平均值顯示。

漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各個(gè)方向反射的現(xiàn)象。江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)

通用反射/透射光譜測量  

       反射、透射這兩種模式是光譜測量的基本手段。實(shí)現(xiàn)這兩種模式的光譜測量，通常需要光譜儀、光源、光纖、測量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，反射、透射這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

     復(fù)享儀器為用戶提供了以光譜儀為**的光譜測量設(shè)備。利用這些配置豐富的設(shè)備，就可以搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。一個(gè)光譜測量系統(tǒng)通常包括了光譜儀、光源、光纖、樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和軟件等部件。 江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)光電學(xué)方法是利用光電效應(yīng)的原理，利用光電元件所產(chǎn)生的光電流與其受照光強(qiáng)成正比的原理來測定礦物反射率。

很多光電行業(yè)的工作者都需要使用分光光度計(jì)，這種儀器一般是采用一個(gè)可以產(chǎn)生多個(gè)波長的光源，通過系列分光裝置，從而產(chǎn)生特定波長的光源，光源透過測試的樣品后，部分光源被吸收，計(jì)算樣品的吸光值，從而轉(zhuǎn)化成樣品的濃度。樣品的吸光值與樣品的濃度成正比。分光光度計(jì)在各行各業(yè)得到了廣泛應(yīng)用，它是利用物質(zhì)對(duì)光的選擇性吸收進(jìn)行物質(zhì)的定性或定量分析的儀器，主要用于物質(zhì)純度檢查、定量分析、物質(zhì)結(jié)構(gòu)鑒別等。可測量結(jié)果總會(huì)出現(xiàn)可接受或不可接受的誤差，誤差來源于測量過程的各個(gè)方面，主要來源于儀器本身性能和測量條件的選擇兩個(gè)方面。

目前我國對(duì)于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法仍處于空白狀態(tài)，各個(gè)單位之間的測試結(jié)果離散性較大，因此迫切需要制定針對(duì)于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)規(guī)范，確保測試系統(tǒng)準(zhǔn)確性，保證隱身材料研制過程中的質(zhì)量可靠性，推進(jìn)隱身材料在武器裝備中的應(yīng)用。

本規(guī)范以JJF1071-2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、JJF1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》、JJF1059.1-2012《測量不確定度評(píng)與表示》為基礎(chǔ)性規(guī)范進(jìn)行制訂。

在本規(guī)范制訂中，參照了GJB5022-2001《室內(nèi)場縮比目標(biāo)雷達(dá)散射截面測試方法》、GJB2038A-2011《雷達(dá)吸波材料反射率測試方法》、GJB4238-2001《***目標(biāo)特性和環(huán)境特性》中的部分內(nèi)容。 漫反射(diffuse reflectance) 測量在提取樣品組成和結(jié)構(gòu)信息方面提供了一個(gè)直接可靠的分析手段。

如果測量過程是在理想環(huán)境條件下進(jìn)行，則測量的結(jié)果將十分正確。但這種理想的測量環(huán)境和條件在實(shí)際中是不存在的，無論是傳感器、儀表、測量對(duì)象、測量方法等，都不同程度地受到各種因素的影響，當(dāng)這些因素發(fā)生變化時(shí)，必然會(huì)影響到被測量示值，使示值和被測量值之間產(chǎn)生差異，這個(gè)差異就是測量誤差。

被測物理量所具有的客觀存在的量值，稱為真值x0。由測量儀表(或系統(tǒng))測得的結(jié)果稱為測量值x。測量值x與真值x0之間的差異稱為測量誤差△x。

因?yàn)檎嬷祒0無法準(zhǔn)確得到，實(shí)際上用的都是約定真值。測量誤差的存在不可避免，任何測定值只能近似地反映被測量的真值。

誤差的大小與測量儀表的精度、測量過程中的隨機(jī)因素、測量方法等許多因素有關(guān)，隨著科技水平的不斷提高，誤差有可能被控制得越來越小。人們的目標(biāo)是盡可能減少誤差△x，使測量值x接近于真值x0，或者應(yīng)用誤差理論分析產(chǎn)生誤差的原因和性質(zhì)，并采取必要的措施，使測量誤差控制在可以接受的合理范圍內(nèi)。 測反射率的光電裝置，按所采用光電元件種類可分為光電池、光電管和光電倍增管顯微光度計(jì)。江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)

使用反射探頭，一端接光譜儀，一端接光源。江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)

反射率測量與應(yīng)用：反射率光譜測量是光譜學(xué)研究和物質(zhì)光譜學(xué)中一種重要的測量方式,對(duì)物質(zhì)的反射率光譜進(jìn)行相應(yīng)的測量,通過反射光譜進(jìn)行材料光學(xué)特性的分析和物質(zhì)成分的鑒定之中,這是一種常見的光學(xué)檢測方式。反射率測量系統(tǒng)的原理是當(dāng)光源通過光纖把光源傳輸照射到物質(zhì)表面的時(shí)候,物質(zhì)表面反射的光譜通過光纖傳輸?shù)焦庾V儀器進(jìn)行收集,再通過軟件將其顯示出來,分析物質(zhì)在受電磁波輻射后不同能級(jí)的吸收波帶情況,從而對(duì)物質(zhì)進(jìn)行檢測鑒定。江蘇原裝反射率測試系統(tǒng)

蘇州千宇光學(xué)科技有限公司坐落在蘇州工業(yè)園區(qū)東旺路8號(hào)7B-302室，是一家專業(yè)的研發(fā)、銷售：光電材料、電子元器件、計(jì)算機(jī)軟硬件；并提供光電材料、電子元器件、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；銷售：半導(dǎo)體材料、儀器儀表、電動(dòng)工具、五金；加工、組裝：自動(dòng)化設(shè)備、機(jī)械設(shè)備；承接：機(jī)械工程、上門維修、租賃服務(wù)；從事上述產(chǎn)品及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)。（依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目。經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動(dòng)）公司。目前我公司在職員工以90后為主，是一個(gè)有活力有能力有創(chuàng)新精神的團(tuán)隊(duì)。蘇州千宇光學(xué)科技有限公司主營業(yè)務(wù)涵蓋高低溫光電綜合系統(tǒng)，彎折機(jī)，相位差測試儀，軸角度測試儀，堅(jiān)持“質(zhì)量保證、良好服務(wù)、顧客滿意”的質(zhì)量方針，贏得廣大客戶的支持和信賴。公司深耕高低溫光電綜合系統(tǒng)，彎折機(jī)，相位差測試儀，軸角度測試儀，正積蓄著更大的能量，向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展。

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