Labsphere的RT-060-XX積分球有5個1英寸的開口容納樣品和9°雙光束結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)中參考光束，蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)，也包括用于9°單光束結(jié)構(gòu)測量中的端蓋。兩個1英寸的樣品支架用于安裝樣品和反射/透射率標(biāo)準(zhǔn)板。積分球頂部具有0.5英寸的探測口，探測罩用以限制探測器視場范圍。鏡面光阱去除鏡面反射光束。

      積分球適合于鏡面測量，包括非鏡面反射測量，蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)，前散射和背散射測量，以及混濁或散射樣品的透射率的測量。積分球的開口處采用刀刃形式有助于收集寬角度散射，阻擋效應(yīng)可以**小化，允許有效的積分。為了保證高積分球效率，蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)，總開口面積應(yīng)小于積分球表面積的5%。每個積分球擁有一個支架配件，由支桿底座和1/4-20支架組成，方便調(diào)節(jié)積分球的高度。 漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各個方向反射的現(xiàn)象。蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)

積分球是漫反射測量中常用附件之一。入射光進(jìn)入樣品后，其中部分漫反射光回到積分球內(nèi)部，在積分球內(nèi)經(jīng)過多次漫反射后到達(dá)檢測器。 由于信號光從散射層面發(fā)出后，經(jīng)過積分球的空間積分，因此可以克服漫反射測量中隨機因素的影響，提高數(shù)據(jù)穩(wěn)定性和重復(fù)性。

卓立漢光的漫反射測量系統(tǒng)采用單色光搭配積分球，同時提供粉末樣品**夾具。 系統(tǒng)搭配光源與探測器可覆蓋紫外到近紅外波段，系統(tǒng)采用單色光掃描測量漫反射率，各波長輸出具有單色性高與雜散光低的特點，相較于復(fù)色光以光纖光譜儀的漫反射測量有更高的可靠性。測量系統(tǒng)還可搭配偏振器件，提供波長與偏振相關(guān)的漫反射測量。 蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)漫射光是指從光源發(fā)出的光進(jìn)入樣品內(nèi)部，經(jīng)過多次反射、折射、散射及吸收后返回樣品表面的光。

目前我國對于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法仍處于空白狀態(tài)，各個單位之間的測試結(jié)果離散性較大，因此迫切需要制定針對于隱身材料測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)規(guī)范，確保測試系統(tǒng)準(zhǔn)確性，保證隱身材料研制過程中的質(zhì)量可靠性，推進(jìn)隱身材料在武器裝備中的應(yīng)用。

本規(guī)范以JJF1071-2010《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫則》、JJF1001-2011《通用計量術(shù)語及定義》、JJF1059.1-2012《測量不確定度評與表示》為基礎(chǔ)性規(guī)范進(jìn)行制訂。

在本規(guī)范制訂中，參照了GJB5022-2001《室內(nèi)場縮比目標(biāo)雷達(dá)散射截面測試方法》、GJB2038A-2011《雷達(dá)吸波材料反射率測試方法》、GJB4238-2001《***目標(biāo)特性和環(huán)境特性》中的部分內(nèi)容。

 每個組成的光譜部分都有其光譜范圍。因此，需要根據(jù)用戶的實際需求，選擇合適的光譜范圍。例如，為了測量紫外部分的光譜，就需要使用能夠檢測紫外波段的紫外敏化光譜儀或面陣背照式光譜儀，以及具有紫外輻射的寬譜段光源。

     以下分別介紹反射、透射、和熒光三種基本的測量模式。物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美的平整表面上的反射是鏡面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。 如果是漫反射，就可以使用支架的45度位置。

光學(xué)方法，此法是借助裝在顯微鏡上的視測光度儀來測定礦物的反射率，或在顯微鏡下同一視域中來比較兩種礦物（“標(biāo)準(zhǔn)”與欲測礦物）的反光強度（反射率）。前者稱視測光度法，后者為簡易比較法（視測比較法）。視測光度法主要有裂隙顯微光度儀法和視覺顯微光度儀法等。由于均以觀測者的視覺為準(zhǔn)，故難免帶有主觀因素，所以精度較差，達(dá)不到精度要求，現(xiàn)已被淘汰。在日常的一般鑒定工作中，有時只需知道欲測礦物反射率的大致范圍，即可查表定出礦物時，可采用簡易比較法。由于它除顯微鏡外不需專門儀器及附件，操作簡便而易于掌握。 由于它除顯微鏡外不需專門儀器及附件，操作簡便而易于掌握。蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)

光學(xué)系統(tǒng)分別與處理系統(tǒng)和所述自動控制系統(tǒng)相連，所述采集與處理系統(tǒng)和自動控制系統(tǒng)通過數(shù)據(jù)線相互連接。蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)

反射率測量與應(yīng)用：反射率光譜測量是光譜學(xué)研究和物質(zhì)光譜學(xué)中一種重要的測量方式,對物質(zhì)的反射率光譜進(jìn)行相應(yīng)的測量,通過反射光譜進(jìn)行材料光學(xué)特性的分析和物質(zhì)成分的鑒定之中,這是一種常見的光學(xué)檢測方式。反射率測量系統(tǒng)的原理是當(dāng)光源通過光纖把光源傳輸照射到物質(zhì)表面的時候,物質(zhì)表面反射的光譜通過光纖傳輸?shù)焦庾V儀器進(jìn)行收集,再通過軟件將其顯示出來,分析物質(zhì)在受電磁波輻射后不同能級的吸收波帶情況,從而對物質(zhì)進(jìn)行檢測鑒定。蘇州原裝反射率測試系統(tǒng)

文章來源地址: http://www.cdcfah.com/cp/3052590.html