X射線衍射儀 (X-Ray-Diffraction簡(jiǎn)稱XRD)利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。XRD衍射儀具有擁有操作簡(jiǎn)便、迅速、信息多、樣品用量少、無污染、衍射強(qiáng)度準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)，是對(duì)流體、粉末及塊狀晶體等物質(zhì)的重要無損檢測(cè)工具, 作為物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征的必須手段。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)特的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)特的，衢州衍射儀哪里有，類似于人的指紋，因此可以進(jìn)行物相分析。其中，衍射花樣中衍射線的分布規(guī)律是由晶胞的大小、形狀和位向決定，衢州衍射儀哪里有，衢州衍射儀哪里有。衍射線的強(qiáng)度是由原子的種類和它們?cè)诰О械奈恢脹Q定。X射線衍射儀使用過程中應(yīng)隨時(shí)觀察循環(huán)冷卻水機(jī)組是否正常制冷，水溫是否保持在≤27C。衢州衍射儀哪里有

X射線衍射儀（XRD）是材料無損表征的有力工具。運(yùn)用衍射原理，可實(shí)現(xiàn)粉末、塊體、薄膜等樣品的測(cè)試分析，可以精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，也就是說可以精確的進(jìn)行物相分析，定性、定量分析及殘余應(yīng)力的分析。X射線衍射分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算,宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定,結(jié)晶度計(jì)算等。X射線衍射儀樣品要求：金屬、非金屬、有機(jī)、無機(jī)材料粉末、塊體、薄膜等樣品。衢州衍射儀哪里有x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵。

奧林巴斯致力于使XRD分析盡可能簡(jiǎn)單，因此我們的客戶可以快速，輕松地獲得定量的礦物學(xué)結(jié)果。**需要幾個(gè)步驟： 準(zhǔn)備樣品， 開始測(cè)試，分析儀將X射線穿過窗口中對(duì)流的樣品， X射線轟擊樣品并在2θ角度范圍內(nèi)衍射， CCD檢測(cè)器測(cè)量衍射信息，內(nèi)置于分析儀的自動(dòng)相識(shí)別和定量軟件SwiftMin?實(shí)時(shí)、直觀地將相ID和定量結(jié)果顯示在用戶界面。許多XRD儀器都使用X射線檢測(cè)器只在一個(gè)平面或一維實(shí)驗(yàn)中捕獲來自樣品的光子。奧林巴斯基于CCD的XRD分析儀可以收集衍射圓環(huán)的切片，以幫助用戶了解樣品的制備方法是否正確（顆粒統(tǒng)計(jì)信息和/或晶體的取向）。這些信息可以幫助確認(rèn)定量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

X射線衍射（XRD）背后的科學(xué)在XRD分析過程中，將X射線束射向樣品，并根據(jù)出射方向測(cè)量散射強(qiáng)度。按照慣例，入射光束方向和出射光束方向之間的角度稱為2θ或2-theta。對(duì)于由間距為d的電荷組成的簡(jiǎn)單的樣本，當(dāng)滿足布拉格定律時(shí)，觀察到相長(zhǎng)干涉（ConstructiveInterference）（更大的散射強(qiáng)度）為：nλ= 2dsin θ。XRD儀器（例如我們的新一代TERRA II和BTX III XRD分析儀）使用該技術(shù)直接在分析儀上為主要和次要組分提供快速、可靠的實(shí)時(shí)礦物學(xué)和相分析。奧林巴斯XRD衍射儀還采用了一種獨(dú)特的方法來快速，輕松地收集和處理XRD數(shù)據(jù)，這使得我們的XRD分析儀非常緊湊和便攜。X射線衍射儀測(cè)定晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸。

X射線衍射儀的使用范圍：金屬材料：半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料；無機(jī)材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復(fù)合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機(jī)材料：醫(yī)藥品、工程塑料、各種樹脂等。X射線衍射儀的工作環(huán)境：建議房間溫度：15oC至25oC，溫度變化小于1oC/30分鐘，分辨儀器的房間溫度：22oC±1oC；相對(duì)濕度：20%至80%；環(huán)境整潔：請(qǐng)定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。如測(cè)角儀光學(xué)編碼盤。衍射儀的X射線源焦點(diǎn)與計(jì)數(shù)管窗口分別位于測(cè)角儀圓周上，樣品位于測(cè)角儀圓的正中心。衢州衍射儀哪里有

連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法。衢州衍射儀哪里有

奧林巴斯XRD分析儀的優(yōu)勢(shì)特性；方便的樣本制備：傳統(tǒng)的臺(tái)式XRD儀器一般會(huì)要求檢測(cè)人員進(jìn)行大量的樣品收集和制備工作，因?yàn)楸仨氁獙⒋笈康臉悠费心コ煞勰?，并精心地碾壓成小球狀。如果樣品研磨得過細(xì)，或者碾壓的力度過大，都可能會(huì)使樣品制備效應(yīng)出現(xiàn)，如：擇優(yōu)取向問題。而奧林巴斯的XRD分析儀與此不同，它只需要15毫克的樣品就可以獲得好的檢測(cè)結(jié)果，而且檢測(cè)人員使用隨儀器附送的樣品工具包可以輕松地制備樣品。同時(shí)測(cè)量：傳統(tǒng)的臺(tái)式XRD儀器需要幾秒鐘時(shí)間獲得每個(gè)2-theta測(cè)量值，因此要獲得所有2-theta測(cè)量值，可能需要長(zhǎng)達(dá)幾個(gè)小時(shí)的時(shí)間。奧林巴斯XRD分析儀裝配有電荷耦合裝置（CCD）探測(cè)器，可以同時(shí)獲得所有2-theta測(cè)量值，因此幾乎可以使完整的衍射圖形立即顯示在屏幕上。衢州衍射儀哪里有

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