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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng),反射率測(cè)試系統(tǒng)
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詳細(xì)說明
鏡面反射和漫反射
對(duì)于絕大多數(shù)的測(cè)量,都可以使用反射探頭的方式來實(shí)現(xiàn)。使用QR400-7-UV-NIR反射探頭,一端接光譜儀,一端接光源,探頭的公共端可以通過RPH-1這個(gè)探頭支架固定,方便的在樣品表面測(cè)量,江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng),反射探頭可以在單一方向進(jìn)行照射和接受,如果是鏡面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。
反射率隨角度變化的樣品
使用積分球ISP-Ref或者ISP-R積分球來測(cè)量,由于積分球的特性,可以將樣品在各個(gè)方向上的反射光收集到積分球中,勻化以后,通過光纖進(jìn)入光譜儀。
光源:
可以使用覆蓋可見和近紅外范圍的鹵鎢燈HL2000,或者紫外到近紅外的DH-2000-BAL光源,江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng),如果您需要更便攜的光源,也可以使用DE-mini光源。
反射標(biāo)準(zhǔn):
如果是漫反射,可以使用ws-1;如果是鏡面反射,可以使用STAN-SSH(高反射率)或者STAN-SSL(高反射率),更有STAN-SSH-NIST,江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng),具有NIST標(biāo)準(zhǔn)的反射率文件,可以直接調(diào)入軟件測(cè)量樣品的***反射率。 可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng)
在鍍膜工藝研究過程中,透反射率高精度、高穩(wěn)定度、自動(dòng)化測(cè)量具有重要意義,是產(chǎn)品品質(zhì)控制的重要手段。我們?cè)诳紤]產(chǎn)品的適用范圍方面增加了對(duì)鏡頭透過率測(cè)量的考慮,使該設(shè)備具有更深的使用范圍。
從結(jié)構(gòu)上看,透反射率測(cè)量系統(tǒng)由光源、測(cè)量主體及探測(cè)器等三部分組成。其中測(cè)量主體是用來實(shí)現(xiàn)測(cè)量原理的光路裝置,它由待測(cè)樣品和其它輔助光學(xué)鏡片構(gòu)成。本設(shè)備使用單次反射法對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量。
·光學(xué)設(shè)計(jì)方案
透過率測(cè)試有很多種光路設(shè)計(jì)方案,都是針對(duì)不同的應(yīng)用產(chǎn)品設(shè)計(jì)的,有的是為了便攜,有的采用特定單色光,有的采用全波段光,有的還具有光譜測(cè)量功能,總之根據(jù)產(chǎn)品不同,大家采用的光學(xué)光路方案不盡相同,測(cè)量精度也有很大的差別。 江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng)這種簡稱“標(biāo)準(zhǔn)”的物質(zhì)其選擇頗為重要,因?yàn)樗鼘?duì)測(cè)定反射率的精確性起著決定作用。
電氣實(shí)現(xiàn)方案的構(gòu)思:
開發(fā)方案決定采用計(jì)算機(jī)為主的方案,由計(jì)算機(jī)全程控制透、反射率的測(cè)量及測(cè)量結(jié)果的保存,為此我們需要設(shè)計(jì)一套完善的計(jì)算機(jī)和嵌入式正確通信的通信協(xié)議,為實(shí)現(xiàn)該功能,我們的底層硬件采用STM32MCU+ADC+精密運(yùn)算放大電路的方案,使用電動(dòng)單色儀和多光源組合,可以實(shí)現(xiàn)350nm~1100nm波段自動(dòng)掃測(cè),掃描步長任意可調(diào),在對(duì)鏡片進(jìn)行反射率的測(cè)量過程中,我們也考慮設(shè)計(jì)了入射角自動(dòng)掃測(cè)的功能,可以按照設(shè)定的轉(zhuǎn)動(dòng)角度步長,自動(dòng)在15~60度之間連續(xù)掃測(cè),該方案集采樣、計(jì)算于一體,設(shè)備的自動(dòng)化程度非常高。
RTC 系列積分球配件包括四個(gè)樣品架: 一個(gè)中心樣品架,兩個(gè)1.25英寸直徑樣品架和一個(gè)1英寸用于進(jìn)一步靈活備用。中心樣品架允許各種樣品反射率與入射角度變化的測(cè)量。積分球包括顎式中心樣品架,同時(shí)夾式和槽式中心樣品架可供選擇。顎式可以夾住1英寸*2英寸,**厚達(dá)0.38英寸的樣品。夾式中心樣品架設(shè)計(jì)用于薄膜或硬度不能承受顎式樣品架的樣品。夾式中心樣品架可以夾住樣品尺寸比較大為1.50"x 2"x 0.125”的樣品。槽式樣品架為12.5平方毫米容器,可以承裝液體和粉末,用于測(cè)試吸收和散射特性。對(duì)于絕大多數(shù)的測(cè)量,都可以使用反射探頭的方式來實(shí)現(xiàn)。
反射率是不透明礦物**重要的光學(xué)性質(zhì),是鑒定礦物的主要光學(xué)常數(shù)。其測(cè)定方法一般有光電學(xué)方法(光電光度法)和光學(xué)方法(視測(cè)光度法和簡易比較法)。反射率“標(biāo)準(zhǔn)”,不論用哪種方法測(cè)定礦物的反射率,都需與反射率已知的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行對(duì)比。這種簡稱“標(biāo)準(zhǔn)”的物質(zhì)其選擇頗為重要,因?yàn)樗鼘?duì)測(cè)定反射率的精確性起著決定作用。作為“標(biāo)準(zhǔn)”的物質(zhì),須具備的條件是:化學(xué)成分固定、化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定不易腐蝕,反射率色散曲線近于水平,均質(zhì)性,無內(nèi)反射,硬度高不易劃傷并能磨光成平整的鏡面。作為“標(biāo)準(zhǔn)”的物質(zhì),須具備的條件是:均質(zhì)性,無內(nèi)反射,硬度高不易劃傷并能磨光成平整的鏡面。江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng)
如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng)
反射率測(cè)試儀簡介:
可見光透射率測(cè)試儀采用鎢鹵素?zé)簟⑵叫泄夤?、積分球、光電池等測(cè)試透過玻璃前后的光通量之比。通過特制的濾光片,將鎢鹵素?zé)舻墓庾V濾除紫外、紅外成分,并將光譜修正為D65光源的相對(duì)輻射光譜,得到符合國標(biāo)準(zhǔn)GB2680-1994要求的玻璃可見光總透射率??梢姽馔干渎蕼y(cè)試儀在光路中增加了光學(xué)斬波器,對(duì)光源進(jìn)行調(diào)制,以實(shí)現(xiàn)儀器在亮場(chǎng)下測(cè)試,拓寬了儀器的使用范圍。若不做光譜修正,即為A光源,可直接3壓花玻璃的透反射率,滿足國家有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)要求。
江蘇反射率測(cè)試系統(tǒng)
文章來源地址: http://www.cdcfah.com/cp/3142226.html
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