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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng),反射率測(cè)試系統(tǒng)
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關(guān)于光電池類(lèi)型的選擇:我們?cè)谥贫ǚ桨傅臅r(shí)候,確定的波段適用范圍是350nm~1100nm,這就要求我們需要選擇不同的光電傳感器以適應(yīng)實(shí)際的需要。從下面的硅光電池典型特性曲線圖中,我們可以發(fā)現(xiàn),兩種不同的硅光電池,它們的的適應(yīng)波長(zhǎng)其實(shí)是不一致的,其中有一種類(lèi)型在紫外部分具有比較好的光生反應(yīng),所以在350nm至1100nm范圍內(nèi),我們就需要采用兩種不同類(lèi)型的傳感器,江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng),以適應(yīng)實(shí)際測(cè)量的需要。采用兩種不同類(lèi)型的傳感器,江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng),江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng),以適應(yīng)實(shí)際測(cè)量的需要。由于信號(hào)光從散射層面發(fā)出后,經(jīng)過(guò)積分球的空間積分。江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
測(cè)量反射率的時(shí)候,必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射,或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。鏡面反射和漫反射對(duì)于絕大多數(shù)的測(cè)量,都可以使用反射探頭的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。使用反射探頭,一端接光譜儀,一端接光源。反射探頭可以在單一方向進(jìn)行照射和接受,如果是鏡面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。如果反射率隨角度有變化的樣品,可以使用反射積分球測(cè)量,由于積分球的特性,可以將樣品在各個(gè)方向上的反射光收集到積分球中,勻化以后,通過(guò)光纖進(jìn)入光譜儀。江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)可見(jiàn)光透射率測(cè)試儀采用鎢鹵素?zé)簟⑵叫泄夤?、積分球、光電池等測(cè)試透過(guò)玻璃前后的光通量之比。
為了提高國(guó)家計(jì)量技術(shù)法規(guī)的規(guī)范性、適用性和可操作性,10月30日,全國(guó)新材料與納米計(jì)量技術(shù)**會(huì)發(fā)布了《隱身材料反射率測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范》征求意見(jiàn)稿,并面向全國(guó)有關(guān)單位征求意見(jiàn)。隱身反射率是衡量隱身材料性能的重要指標(biāo),反射率可以直觀地表達(dá)出隱身材料對(duì)雷達(dá)信號(hào)的反射性能。因此在隱身材料研制與生產(chǎn)階段,需要實(shí)時(shí)對(duì)隱身材料進(jìn)行反射率測(cè)試。通過(guò)考察隱身材料的反射率性能,對(duì)隱身材料的配比組成與結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,保障隱身材料在武器裝備上的應(yīng)用。
每個(gè)組成的光譜部分都有其光譜范圍。因此,需要根據(jù)用戶的實(shí)際需求,選擇合適的光譜范圍。例如,為了測(cè)量紫外部分的光譜,就需要使用能夠檢測(cè)紫外波段的紫外敏化光譜儀或面陣背照式光譜儀,以及具有紫外輻射的寬譜段光源。
以下分別介紹反射、透射、和熒光三種基本的測(cè)量模式。物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美的平整表面上的反射是鏡面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。 測(cè)定方法一般有光電學(xué)方法(光電光度法)和光學(xué)方法(視測(cè)光度法和簡(jiǎn)易比較法)。
目前我國(guó)對(duì)于隱身材料測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法仍處于空白狀態(tài),各個(gè)單位之間的測(cè)試結(jié)果離散性較大,因此迫切需要制定針對(duì)于隱身材料測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn)規(guī)范,確保測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確性,保證隱身材料研制過(guò)程中的質(zhì)量可靠性,推進(jìn)隱身材料在武器裝備中的應(yīng)用。
本規(guī)范以JJF1071-2010《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)則》、《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)則》、JJF1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義》、JJF1059.1-2012《測(cè)量不確定度評(píng)與表示》為基礎(chǔ)性規(guī)范進(jìn)行制訂。
在本規(guī)范制訂中,參照了GJB5022-2001《室內(nèi)場(chǎng)縮比目標(biāo)雷達(dá)散射截面測(cè)試方法》、GJB2038A-2011《雷達(dá)吸波材料反射率測(cè)試方法》、GJB4238-2001《***目標(biāo)特性和環(huán)境特性》中的部分內(nèi)容。 從結(jié)構(gòu)上看,透反射率測(cè)量系統(tǒng)由光源、測(cè)量主體及探測(cè)器等三部分組成。江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
光學(xué)系統(tǒng)分別與處理系統(tǒng)和所述自動(dòng)控制系統(tǒng)相連,所述采集與處理系統(tǒng)和自動(dòng)控制系統(tǒng)通過(guò)數(shù)據(jù)線相互連接。江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
在鍍膜工藝研究過(guò)程中,透反射率高精度、高穩(wěn)定度、自動(dòng)化測(cè)量具有重要意義,是產(chǎn)品品質(zhì)控制的重要手段。我們?cè)诳紤]產(chǎn)品的適用范圍方面增加了對(duì)鏡頭透過(guò)率測(cè)量的考慮,使該設(shè)備具有更深的使用范圍。
從結(jié)構(gòu)上看,透反射率測(cè)量系統(tǒng)由光源、測(cè)量主體及探測(cè)器等三部分組成。其中測(cè)量主體是用來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)量原理的光路裝置,它由待測(cè)樣品和其它輔助光學(xué)鏡片構(gòu)成。本設(shè)備使用單次反射法對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量。
·光學(xué)設(shè)計(jì)方案
透過(guò)率測(cè)試有很多種光路設(shè)計(jì)方案,都是針對(duì)不同的應(yīng)用產(chǎn)品設(shè)計(jì)的,有的是為了便攜,有的采用特定單色光,有的采用全波段光,有的還具有光譜測(cè)量功能,總之根據(jù)產(chǎn)品不同,大家采用的光學(xué)光路方案不盡相同,測(cè)量精度也有很大的差別。 江蘇銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
文章來(lái)源地址: http://www.cdcfah.com/cp/3144353.html
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