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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng),反射率測(cè)試系統(tǒng)
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詳細(xì)說(shuō)明
目前我國(guó)對(duì)于隱身材料測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法仍處于空白狀態(tài),各個(gè)單位之間的測(cè)試結(jié)果離散性較大,因此迫切需要制定針對(duì)于隱身材料測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn)規(guī)范,確保測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確性,保證隱身材料研制過(guò)程中的質(zhì)量可靠性,推進(jìn)隱身材料在武器裝備中的應(yīng)用,蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)。
本規(guī)范以JJF1071-2010《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)則》、《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)則》,蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)、JJF1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義》、JJF1059.1-2012《測(cè)量不確定度評(píng)與表示》為基礎(chǔ)性規(guī)范進(jìn)行制訂。
在本規(guī)范制訂中,參照了GJB5022-2001《室內(nèi)場(chǎng)縮比目標(biāo)雷達(dá)散射截面測(cè)試方法》、GJB2038A-2011《雷達(dá)吸波材料反射率測(cè)試方法》、GJB4238-2001《***目標(biāo)特性和環(huán)境特性》中的部分內(nèi)容,蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)。 可見(jiàn)光透射率測(cè)試儀在光路中增加了光學(xué)斬波器,以實(shí)現(xiàn)儀器在亮場(chǎng)下測(cè)試,拓寬了儀器的使用范圍。蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
其中藍(lán)色框是基本的鏡面反射光譜測(cè)量方式。測(cè)量中采用的是Y形反射光纖。紅色框是倒置式的鏡面反射光譜測(cè)量方式。由于這種方式可以保持樣品至反射光纖的距離和標(biāo)準(zhǔn)參比樣品至反射光纖的距離精確相等,因此,倒置光譜測(cè)量方式更加適合于需要精確測(cè)量光譜反射率的場(chǎng)合。
綠色框是倒置的積分球反射光譜測(cè)量方式,可以采用8度角照射,90度角接受,也可以采用90度角照射,8度角接受的方式。這種方式適合于毛糙表面或絨面樣品的反射率測(cè)量。 江蘇正規(guī)反射率測(cè)試系統(tǒng)作為“標(biāo)準(zhǔn)”的物質(zhì),須具備的條件是:均質(zhì)性,無(wú)內(nèi)反射,硬度高不易劃傷并能磨光成平整的鏡面。
現(xiàn)階段市面上的反射率檢測(cè)儀是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類(lèi)球面/非球面器件的相對(duì)/相對(duì)反射率。這些通??梢赃m用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。
物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域(φ60μm)顏色測(cè)定 X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長(zhǎng)等 高性能探測(cè)器,使得他們能夠在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測(cè)定無(wú)需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面反射率。
測(cè)量反射率的時(shí)候,必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射,或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。鏡面反射和漫反射對(duì)于絕大多數(shù)的測(cè)量,都可以使用反射探頭的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。使用反射探頭,一端接光譜儀,一端接光源。反射探頭可以在單一方向進(jìn)行照射和接受,如果是鏡面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。如果反射率隨角度有變化的樣品,可以使用反射積分球測(cè)量,由于積分球的特性,可以將樣品在各個(gè)方向上的反射光收集到積分球中,勻化以后,通過(guò)光纖進(jìn)入光譜儀。如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。
反射率是不透明礦物**重要的光學(xué)性質(zhì),是鑒定礦物的主要光學(xué)常數(shù)。其測(cè)定方法一般有光電學(xué)方法(光電光度法)和光學(xué)方法(視測(cè)光度法和簡(jiǎn)易比較法)。光電學(xué)方法(光電法或光電光度法)是利用光電效應(yīng)的原理,即利用光電元件所產(chǎn)生的光電流與其受照光強(qiáng)成正比的原理來(lái)測(cè)定礦物反射率。其方法是在同一條件下,分別測(cè)取“標(biāo)準(zhǔn)”與欲測(cè)礦物的光電流強(qiáng)度,從而根據(jù)已知反射率的“標(biāo)準(zhǔn)”計(jì)算出欲測(cè)礦物的反射率。測(cè)反射率的光電裝置,按所采用光電元件種類(lèi)可分為光電池、光電管和光電倍增管顯微光度計(jì)。前兩種由于其靈敏度及準(zhǔn)確性差而被淘汰;光電倍增管顯微光度計(jì)其靈敏度高,能測(cè)直徑小至0.5 μm面積的光強(qiáng)。所以被國(guó)際礦相學(xué)**會(huì)規(guī)定為測(cè)定反射率的標(biāo)準(zhǔn)儀器。由于它除顯微鏡外不需專(zhuān)門(mén)儀器及附件,操作簡(jiǎn)便而易于掌握。蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
積分球是漫反射測(cè)量中常用附件之一。蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中后視鏡反射率測(cè)試系統(tǒng)所存在的缺點(diǎn),提供一種能同時(shí)測(cè)量后視鏡晝間模式和夜間模式的反射率,測(cè)量快捷、準(zhǔn)確并可實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果的儲(chǔ)存、直讀的后視鏡反射率測(cè)試系統(tǒng)。為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種后視鏡反射率測(cè)試系統(tǒng),包括光學(xué)測(cè)量裝置和智能儀表,所述的光學(xué)測(cè)量裝置包括依次通過(guò)光路相互連接的標(biāo)準(zhǔn)光源、平行光管、光積分球以及光電***;所述的智能儀表包括相互連接的**處理器、控制面板以及顯示屏,該**處理器通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換電路與所述的光電***相連接;所述的光積分球上設(shè)有一光線入射口,所述平行光管的出光口與所述光線入射口通過(guò)被測(cè)件表面的入射光線和反射光線所形成的光路相連通。 蘇州銷(xiāo)售反射率測(cè)試系統(tǒng)
文章來(lái)源地址: http://www.cdcfah.com/cp/3160236.html
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