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    蘇州光學(xué)膜光軸測試儀 蘇州千宇光學(xué)科技供應(yīng)

    需求數(shù)量:0

    價(jià)格要求:面議

    所在地:江蘇省

    包裝要求:

    產(chǎn)品關(guān)鍵詞:蘇州光學(xué)膜光軸測試儀,光軸測試儀

    ***更新:2021-02-06 01:04:24

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    公司基本資料信息

    蘇州千宇光學(xué)科技有限公司

    聯(lián)系人:密先生

    郵箱: cimi@oec-tech.com

    電話: 18662198664

    傳真: 0512_69388290

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    手機(jī): 0512-69388290

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    詳細(xì)說明

    相位差測量 兩個(gè)正弦電量可以是電壓和電流,或者一個(gè)是電壓,一個(gè)是電流等,對應(yīng)點(diǎn)通常是從負(fù)到正的過零點(diǎn),相當(dāng)于正弦電函數(shù)的初始相位角。相位差的單位是度或弧度,正負(fù)號表示超前或滯后關(guān)系。一種 由于被測相位差正弦電量的頻率范圍很寬,所以通常根據(jù)頻率選擇測量方法和儀器,蘇州光學(xué)膜光軸測試儀。常用的方法有直接法和間接法。一種 直接法:用指針式相位計(jì),蘇州光學(xué)膜光軸測試儀、數(shù)字相位計(jì)等**儀器或用負(fù)示波器測量相位差,蘇州光學(xué)膜光軸測試儀。當(dāng)使用陰極示波器時(shí),將兩個(gè)相同頻率的正弦電壓信號分別加到示波器的X軸和Y軸上。然后兩個(gè)正弦電壓之間的相位差為∮=電弧正弦(B/α)。精心打造的每一-臺設(shè)備出貨前都會用**計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校驗(yàn)。蘇州光學(xué)膜光軸測試儀

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    相位差測試儀測試小科普:

    1.Q:軸角度是吸收軸角度嗎?

     A:否。①吸收軸角度,是指透過光線在某一方向呈現(xiàn)吸收狀態(tài)(透光率比較低),此光軸跟基準(zhǔn)邊的夾角。通常同偏光軸(透過軸)垂直相交。 ②軸角度定義適用于雙折射樣品(產(chǎn)生相位差的樣品),在國際上普遍定義為慢軸與基準(zhǔn)邊的夾角。

    2. Q:配向角(取向角)是指軸角嗎?

    A:否。配向角是軸角在垂直方向的投影。當(dāng)水平放置樣品時(shí),配向角=軸角。當(dāng)樣品傾斜時(shí),配向角會隨著樣品的翻轉(zhuǎn)而變化,所以在測量配向角時(shí)候,需要知道樣品與水平面的夾角。 蘇州光學(xué)膜光軸測試儀測量重復(fù)性精度業(yè)內(nèi)比較高。

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    該設(shè)備是對對正弦/三角/梯形波/方波的相位差進(jìn)行精密測量,具有高度集成,精度高;穩(wěn)定性好,性能可靠,操作簡便、使用方便、安全等特點(diǎn),相控雷達(dá)陣、無線電導(dǎo)航系統(tǒng)、自動控制系統(tǒng)的測距和定位,電力系統(tǒng)中相電壓的相位差測量等都有廣泛應(yīng)用。該套高精度相位差測量儀的部分參數(shù)如下:輸入信號波形正弦/三角/梯形波/方波輸入阻抗1MΩ相位范圍0°to360°or±180°頻率范圍10Hz~20KHz幅度范圍~100Vrms測量精度相位測量精度±°相位分辨率°頻率測量精度2E-6環(huán)境特性工作溫度0℃~+50℃相對濕度≤90%(40℃)存儲溫度-30℃~+70℃供電電源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W機(jī)箱尺寸3U,19″標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱(上機(jī)架)482mm(寬)x370(深)x150mm(高)選件根據(jù)客戶要求定做類似產(chǎn)品。高精度相位差測量儀主要是由鎖相環(huán)PLL(PhaseLockLoop)產(chǎn)生360倍頻基準(zhǔn)信號和移相網(wǎng)絡(luò)的基準(zhǔn)信號與待測信號進(jìn)行異或后的信號作為顯示器的閘門電路和控制信號。在電子系統(tǒng)非常廣泛應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi),到處可見到處理離散信息的數(shù)字電路,在電子技術(shù)中,頻率是**基本的參數(shù)之一。現(xiàn)代相位測量技術(shù)的發(fā)展可分為三個(gè)階段:***個(gè)階段是早期采用的諸如阻抗法、和/差法、三電壓法、對比法和平衡法等。

    相位差測量是兩同周期正弦電量對應(yīng)點(diǎn)間角度差值的測量。

    此兩正弦電量可以同為電壓、電流,或一為電壓、一為電流等。對應(yīng)點(diǎn)常取正弦電量由負(fù)到正的過零點(diǎn),相當(dāng)于正弦電量函數(shù)的初相角。相位差的單位是度或弧度,正、負(fù)號表示**或滯后關(guān)系。

    待測相位差的正弦電量的頻率范圍很廣,因此采用的測量方法和儀器一般隨頻率的高低來選擇。

    常用的方法:

    直接法使用**的儀表如指針式相位表、數(shù)字相位表,或采用陰級示波器來測量相位差。采用陰極示波器時(shí),將兩同頻正弦電壓信號分別加到示波器的X、Y軸,得到如圖1所示的橢圓圖形,則兩正弦電壓之間的相位差∮=arc sin(b/α)。這一方法不能判斷兩信號哪一個(gè)**或滯后,并且在∮值接近零時(shí),橢圓也退化接近成為一條直線,即b值很小,所以∮值很難測準(zhǔn)

    間接法通常采用三電壓表法。一般要求兩電壓信號有一公共點(diǎn)(設(shè)為a點(diǎn)),當(dāng)分別測出兩信號電壓Uab、Uca,以及兩電壓的差值Ubc后,可畫出電壓三角形。按余弦定理,兩信號電壓間的相位差當(dāng)∮很小時(shí),可將Uab或Uca中較大的一個(gè)信號電壓分壓,使分壓后兩信號的數(shù)值相等。 狹縫:可 選擇狹縫寬度(25um、 50um、100um、 200um )。

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    偏振片介由粘附劑貼附在液晶顯示板上。此時(shí),存在氣泡進(jìn) 入偏振片與液晶顯示板之間或者偏振片出現(xiàn)變形的情況。這時(shí),為了再 利用液晶顯示板,采用將偏振片從液晶顯示板上剝離,貼合新的偏振片 的工序(再加工工序)。但是,當(dāng)形成偏振片的保護(hù)膜與起偏振器的粘 合力弱時(shí),將該偏振片剝離時(shí),有時(shí)保護(hù)膜與起偏振器會剝離。這時(shí), 液晶顯示板上殘留有保護(hù)膜,要附加剝離保護(hù)膜的工序,因此制造效率 下降。

    因此,作為制造偏振片時(shí)使用的、用于粘合保護(hù)膜和起偏振器的粘 合劑的特性,要求即使在再加工時(shí)也發(fā)揮起偏振器與保護(hù)膜之間的牢固 粘合強(qiáng)度(剝離強(qiáng)度)。 *已通過中國計(jì)量用標(biāo)準(zhǔn)片數(shù)據(jù)匹配。蘇州光學(xué)膜光軸測試儀

    偏光片吸收軸角度、偏振片偏振方向、波片快軸方向。蘇州光學(xué)膜光軸測試儀

    相位差測試儀是工業(yè)領(lǐng)域中是經(jīng)常用到的一般測量工具,比如在電力系統(tǒng)中電網(wǎng)并網(wǎng)合閘時(shí),需要兩電網(wǎng)的電信號相同,這就需要精確的測量兩工頻信號之間的相位差。更有測量兩列同頻信號的相位差在研究網(wǎng)絡(luò)、系統(tǒng)的頻率特性中具備重要意義。相位測量的方法很多,典型的傳統(tǒng)方法是通過顯示器觀測,這種方法誤差較大,讀數(shù)不方便。為此,我們設(shè)計(jì)了一種數(shù)字相位差測量儀,實(shí)現(xiàn)了兩列信號相位差的自動測量及數(shù)顯。近年來,隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展,很多測量儀逐漸向“智能儀器”和“自動測試系統(tǒng)”發(fā)展,這使得儀器的使用比較簡單,功能越越多。蘇州光學(xué)膜光軸測試儀


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