等離子刻蝕是干法刻蝕中較常見(jiàn)的一種形式。一種或多種氣體原子或分子混合于反應(yīng)腔室中，在外部能量作用下（如射頻、微波等）形成等離子體。其原理是暴露在電子區(qū)域的氣體形成等離子體，由此產(chǎn)生的電離氣體和釋放高能電子組成的氣體，從而形成了等離子或離子，電離氣體原子通過(guò)電場(chǎng)加速時(shí)，會(huì)釋放足夠的力量與表面驅(qū)逐力緊緊粘合材料或蝕刻表面。一個(gè)等離子體干法刻蝕系統(tǒng)基本部件包括：發(fā)生刻蝕反應(yīng)的反應(yīng)腔，河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)、產(chǎn)生等離子體氣的射頻電源、氣體流量控制系統(tǒng)、去除生成物的真空系統(tǒng)。刻蝕中會(huì)用到大量的化學(xué)氣體，通常用氟刻蝕二氧化硅，氯和氟刻蝕鋁，氯，河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)，河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)、氟和溴刻蝕硅，氧去除光刻膠?？涛g是用化學(xué)或物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要的材料的過(guò)程。河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)

刻蝕原理介紹主要工藝參數(shù)刻蝕液更換頻率的管控刻蝕不良的產(chǎn)生原因單擊此處編輯母版標(biāo)題樣式單擊此處編輯母版標(biāo)題樣式刻蝕工藝介紹辛小剛刻蝕原理介紹刻蝕主要工藝參數(shù)刻蝕液更換頻率的管控刻蝕不良原因分析刻蝕是用一定比例的酸液把玻璃上未受光刻膠保護(hù)的Metal/ITO膜通過(guò)化學(xué)反應(yīng)去除掉，較終形成制程所需要的圖形。刻蝕種類目前我司的刻蝕種類主要分兩種：1、Metal刻蝕刻蝕液主要成分：磷酸、硝酸、醋酸、水。Metal：合金金屬2、ITO刻蝕刻蝕液主要成分：鹽酸、硝酸、水。ITO：氧化銦錫（混合物）Metal刻蝕前后：ITO刻蝕前后：刻蝕前后對(duì)比照片12345刻蝕液濃度刻蝕溫度刻蝕速度噴淋流量過(guò)刻量刻蝕液的濃度對(duì)刻蝕效果影響較大，所以我們主要通過(guò)：來(lái)料檢驗(yàn)、首片確認(rèn)、定期更換的方法來(lái)保證。東莞MEMS材料刻蝕服務(wù)二氧化硅的刻蝕，可以采用濕法腐蝕的方法來(lái)腐蝕，也可以采用ICP干法來(lái)刻蝕。

氮化硅的干法刻蝕S13N4在半導(dǎo)體工藝中主要用在兩個(gè)地方。1、用做器件區(qū)的防止氧化保護(hù)層（厚約lOOnm）。2、作為器件的鈍化保護(hù)層。在這兩個(gè)地方刻蝕的圖形尺寸都比較大，非等向的刻蝕就不那么重要了?？涛gSi3N4時(shí)下方通常是厚約25nm的Si02，為了避免對(duì)Si02層的刻蝕，Si3N4與S102之間必須有一定的刻蝕選擇比。S13N4的刻蝕基本上與Si02和Si類似，常用CF4+0等離子體來(lái)刻蝕。但是Si-N鍵強(qiáng)度介于Si-Si與Si-0之間，因此使Si3N4對(duì)Si或Si02的刻蝕選擇比均不好。在CF4的等離子體中，Si對(duì)Si3N4的選擇比約為8，而Si3N4對(duì)Si02的選擇比只有2—3，在這么低的刻蝕選擇比下，刻蝕時(shí)間的控制就變得非常重要。除了CF4外，也有人改用蘭氟化氮(NF3)的等離子體來(lái)刻蝕Si3N4，雖然刻蝕速率較慢，但可獲得可以接受的Si3N4/Si02的刻蝕選擇比。

刻蝕是使用化學(xué)或者物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的過(guò)程，常用的設(shè)備為刻蝕機(jī)等。通常的晶圓加工流程中，刻蝕工藝位于光刻工藝之后，有圖形的光刻膠層在刻蝕中不會(huì)受到腐蝕源的明顯侵蝕，從而完成圖形轉(zhuǎn)移的工藝步驟。為在硅片表面材料上復(fù)制掩膜圖案，刻蝕需要滿足一定的參數(shù)，主要有：刻蝕速率、刻蝕剖面、刻蝕偏差和選擇比等。刻蝕速率指刻蝕過(guò)程中去除硅片表面材料的速度；刻蝕剖面指的是刻蝕圖形的側(cè)壁形狀，通常分為各向同性和各向異性剖面；刻蝕偏差指的是線寬或關(guān)鍵尺寸間距的變化，通常由橫向鉆蝕引起；選擇比指的是同一刻蝕條件下兩種材料刻蝕速率比，高選擇比意味著不需要的材料會(huì)被刻除。等離子會(huì)釋放帶正電的離子來(lái)撞擊晶圓以去除（刻蝕）材料，并和活性自由基產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)。

干刻蝕是一類較新型，但迅速為半導(dǎo)體工業(yè)所采用的技術(shù)。其利用電漿(plasma)來(lái)進(jìn)行半導(dǎo)體薄膜材料的刻蝕加工。其中電漿必須在真空度約10至0.001Torr的環(huán)境下，才有可能被激發(fā)出來(lái)；而干刻蝕采用的氣體，或轟擊質(zhì)量頗巨，或化學(xué)活性極高，均能達(dá)成刻蝕的目的。干刻蝕基本上包括離子轟擊與化學(xué)反應(yīng)兩部份刻蝕機(jī)制。偏「離子轟擊」效應(yīng)者使用氬氣(argon)，加工出來(lái)之邊緣側(cè)向侵蝕現(xiàn)象極微。而偏化學(xué)反應(yīng)效應(yīng)者則采氟系或氯系氣體(如四氟化碳CF4)，經(jīng)激發(fā)出來(lái)的電漿，即帶有氟或氯之離子團(tuán)，可快速與芯片表面材質(zhì)反應(yīng)。刪轎厚干刻蝕法可直接利用光阻作刻蝕之阻絕遮幕，不必另行成長(zhǎng)阻絕遮幕之半導(dǎo)體材料。而其較重要的優(yōu)點(diǎn)，能兼顧邊緣側(cè)向侵蝕現(xiàn)象極微與高刻蝕率兩種優(yōu)點(diǎn)，換言之，本技術(shù)中所謂活性離子刻蝕已足敷頁(yè)堡局滲次微米線寬制程技術(shù)的要求，而正被大量使用。鈍化層基本的刻蝕劑是氫氟酸，它有刻蝕二氧化硅而不傷及硅的優(yōu)點(diǎn)。河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)

干法刻蝕種類比較多，包括光揮發(fā)、氣相腐蝕、等離子體腐蝕等。河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)

等向性刻蝕：大部份的濕刻蝕液均是等向性，換言之，對(duì)刻蝕接觸點(diǎn)之任何方向腐蝕速度并無(wú)明顯差異。故一旦定義好刻蝕掩膜的圖案，暴露出來(lái)的區(qū)域，便是往下腐蝕的所在；蘭記婚只要刻蝕配方具高選擇性，便應(yīng)當(dāng)止于所該止之深度。然而有鑒于任何被蝕薄膜皆有其厚度，當(dāng)其被蝕出某深度時(shí)，刻蝕掩膜圖案邊緣的部位漸與刻蝕液接觸，故刻蝕液也開(kāi)始對(duì)刻蝕掩膜圖案邊緣的底部，進(jìn)行蝕掏，這就是所謂的下切或側(cè)向侵蝕現(xiàn)象(undercut)。該現(xiàn)象造成的圖案?jìng)?cè)向誤差與被蝕薄膜厚度同數(shù)量級(jí)，換言之，濕刻蝕技術(shù)因之而無(wú)法應(yīng)用在類似次微米線寬的精密棄擊乃制程技術(shù)！河南氮化鎵材料刻蝕平臺(tái)

廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所坐落在長(zhǎng)興路363號(hào)，是一家專業(yè)的面向半導(dǎo)體光電子器件、功率電子器件、MEMS、生物芯片等前沿領(lǐng)域，致力于打造***的公益性、開(kāi)放性、支撐性樞紐中心。平臺(tái)擁有半導(dǎo)體制備工藝所需的整套儀器設(shè)備，建立了一條實(shí)驗(yàn)室研發(fā)線和一條中試線，加工尺寸覆蓋2-6英寸（部分8英寸），同時(shí)形成了一支與硬件有機(jī)結(jié)合的專業(yè)人才隊(duì)伍。平臺(tái)當(dāng)前緊抓技術(shù)創(chuàng)新和公共服務(wù)，面向國(guó)內(nèi)外高校、科研院所以及企業(yè)提供開(kāi)放共享，為技術(shù)咨詢、創(chuàng)新研發(fā)、技術(shù)驗(yàn)證以及產(chǎn)品中試提供支持。公司。目前我公司在職員工以90后為主，是一個(gè)有活力有能力有創(chuàng)新精神的團(tuán)隊(duì)。廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所主營(yíng)業(yè)務(wù)涵蓋微納加工技術(shù)服務(wù)，真空鍍膜技術(shù)服務(wù)，紫外光刻技術(shù)服務(wù)，材料刻蝕技術(shù)服務(wù)，堅(jiān)持“質(zhì)量保證、良好服務(wù)、顧客滿意”的質(zhì)量方針，贏得廣大客戶的支持和信賴。公司深耕微納加工技術(shù)服務(wù)，真空鍍膜技術(shù)服務(wù)，紫外光刻技術(shù)服務(wù)，材料刻蝕技術(shù)服務(wù)，正積蓄著更大的能量，向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展。

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