PECVD，等離子體化學(xué)氣相沉積法是借助微波或射頻等使含有薄膜組成原子的氣體電離，使局部形成等離子體，而等離子體化學(xué)活性很強(qiáng)，兩種或多種氣體很容易發(fā)生反應(yīng)，在襯底上沉積出所期待的薄膜。為了使化學(xué)反應(yīng)能在較低的溫度下進(jìn)行，利用了等離子體的活性來(lái)促進(jìn)反應(yīng)，因此，珠海PECVD真空鍍膜，這種CVD稱為等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積，珠海PECVD真空鍍膜。真空鍍膜的工藝流程：真空鍍膜的工藝流程一般依次為：前處理及化學(xué)清洗（材料進(jìn)行有機(jī)清洗和無(wú)機(jī)清洗）→襯底真空中烘烤加熱→等離子體清洗→金屬離子轟擊→鍍金屬過渡層→鍍膜（通入反應(yīng)氣體）。蒸發(fā)高熔點(diǎn)的材料可以用薄片來(lái)蒸鍍，珠海PECVD真空鍍膜，將1mm材料薄片架空于碳坩堝上沿，薄片只能通過坩堝邊沿來(lái)導(dǎo)熱。珠海PECVD真空鍍膜

磁控濺射由于其內(nèi)部電場(chǎng)的存在，還可在襯底端引入一個(gè)負(fù)偏壓，使濺射速率和材料粒子的方向性增加。所以磁控濺射常用來(lái)沉積TSV結(jié)構(gòu)的阻擋層和種子層，通過對(duì)相關(guān)參數(shù)的調(diào)整和引入負(fù)偏壓，可以實(shí)現(xiàn)高深寬比的薄膜濺射，且深孔內(nèi)壁薄膜連續(xù)和良好的均勻性。通過PVD制備的薄膜通常存在應(yīng)力問題，不同材料與襯底間可能存在壓應(yīng)力或張應(yīng)力，在多層膜結(jié)構(gòu)中可能同時(shí)存在多種形式的應(yīng)力。薄膜應(yīng)力的起源是薄膜生長(zhǎng)過程中的某種結(jié)構(gòu)不完整性(雜質(zhì)、空位、晶粒邊界、錯(cuò)位等)、表面能態(tài)的存在、薄膜與基底界面間的晶格錯(cuò)配等黑龍江功率器件真空鍍膜廠家降低PVD制備薄膜的應(yīng)力，可以提高襯底溫度。

磁控濺射的優(yōu)勢(shì)在于可根據(jù)靶材的性質(zhì)來(lái)選擇使用不同的靶qiang進(jìn)行濺射，靶qiang分為射頻靶(RF)、直流靶(DC)、直流脈沖靶(DC Pluse)。其中射頻靶主要用于導(dǎo)電性較差的氧化物、陶瓷等介質(zhì)膜的濺射，也可以進(jìn)行常規(guī)金屬材料濺射。直流靶只能用于導(dǎo)電性較好的金屬材料，而直流脈沖靶介于二者之間，可濺射硅、鍺等半導(dǎo)體材料。利用PECVD生長(zhǎng)的氮化硅薄膜具有以下優(yōu)點(diǎn)：1.均勻性和重復(fù)性好，可大面積成膜2.可在低溫下成膜3.臺(tái)階覆蓋性比較好 4.薄膜成分和厚度容易控制 5.應(yīng)用范圍廣，設(shè)備簡(jiǎn)單，易于產(chǎn)業(yè)化。

熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化，干法氧化是在硅片表面通入氧氣，硅片與氧化反應(yīng)生成氧化硅，氧化速率比較慢，氧化膜厚容易控制。濕法氧化在爐管當(dāng)中通入氧氣和氫氣，兩者反應(yīng)生長(zhǎng)水蒸氣，水蒸氣與硅片表面反應(yīng)生長(zhǎng)氧化硅，濕法氧化，速率比較快，可以生長(zhǎng)比較厚的薄膜。對(duì)于薄膜應(yīng)力主要有以下原因：1.薄膜生長(zhǎng)初始階段，薄膜面和界面的表面張力的共同作用；2.沉積過程中膜面溫度遠(yuǎn)高于襯底溫度產(chǎn)生熱應(yīng)變；3.薄膜和襯底間點(diǎn)陣錯(cuò)配而產(chǎn)生界面應(yīng)力；4.金屬膜氧化后氧化物原子體積增大產(chǎn)生壓應(yīng)力；5.斜入射造成各向異性成核、生長(zhǎng)；6.薄膜內(nèi)產(chǎn)生相變或化學(xué)組分改變導(dǎo)致原子體積變化。磁控濺射由于其內(nèi)部電場(chǎng)的存在，還可在襯底端引入一個(gè)負(fù)偏壓，使濺射速率和材料粒子的方向性增加。

對(duì)于薄膜應(yīng)力主要有以下原因：1.薄膜生長(zhǎng)初始階段，薄膜面和界面的表面張力的共同作用；2.沉積過程中膜面溫度遠(yuǎn)高于襯底溫度產(chǎn)生熱應(yīng)變；3.薄膜和襯底間點(diǎn)陣錯(cuò)配而產(chǎn)生界面應(yīng)力；4.金屬膜氧化后氧化物原子體積增大產(chǎn)生壓應(yīng)力；5.斜入射造成各向異性成核、生長(zhǎng)；6.薄膜內(nèi)產(chǎn)生相變或化學(xué)組分改變導(dǎo)致原子體積變化。熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化，干法氧化是在硅片表面通入氧氣，硅片與氧化反應(yīng)生成氧化硅，氧化速率比較慢，氧化膜厚容易控制。濕法氧化在爐管當(dāng)中通入氧氣和氫氣，兩者反應(yīng)生長(zhǎng)水蒸氣，水蒸氣與硅片表面反應(yīng)生長(zhǎng)氧化硅，濕法氧化，速率比較快，可以生長(zhǎng)比較厚的薄膜。為了使化學(xué)反應(yīng)能在較低的溫度下進(jìn)行，利用了等離子體的活性來(lái)促進(jìn)反應(yīng)。四川等離子體增強(qiáng)氣相沉積真空鍍膜代工

磁控濺射常用于新型氧化物，陶瓷材料的鍍膜，電子束則用于對(duì)薄膜質(zhì)量較高的金屬材料。珠海PECVD真空鍍膜

PECVD主要由工藝管及電阻加熱爐、凈化推舟系統(tǒng)、氣路系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、真空系統(tǒng)6大部分組成。PECVD的主要性能指標(biāo)，PECVD設(shè)備的主要特點(diǎn)，該設(shè)備成膜種類為氮化硅，這種PECVD成膜均勻性好、穩(wěn)定性高。每片硅片間不均勻性誤差在5%之內(nèi)，同一批硅片間的誤差在6%之內(nèi)，不同批次硅片間誤差在7%之內(nèi)。溫度要求比較低，成膜溫度為150℃～500℃，恒溫區(qū)溫度均勻，誤差范圍在2℃之內(nèi)，并且在整個(gè)成膜過程中隨時(shí)間變化小，誤差范圍為2℃/24h之內(nèi)。升溫時(shí)間較短，工作壓力范圍廣，恢復(fù)真空時(shí)間短，設(shè)備封閉性強(qiáng)并且具有溫度控制和計(jì)算機(jī)自動(dòng)監(jiān)控等安全措施功能。除此之外，PECVD與一般CVD相比有更多的優(yōu)點(diǎn)。珠海PECVD真空鍍膜

廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所位于長(zhǎng)興路363號(hào)。公司自成立以來(lái)，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下微納加工技術(shù)服務(wù)，真空鍍膜技術(shù)服務(wù)，紫外光刻技術(shù)服務(wù)，材料刻蝕技術(shù)服務(wù)深受客戶的喜愛。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí)，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于電子元器件行業(yè)的發(fā)展。廣東省半導(dǎo)體所秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念，全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。

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