使得用于發(fā)射線(xiàn)圈802的跡線(xiàn)中的一些跡線(xiàn)在pcb的一側(cè)上，而發(fā)射線(xiàn)圈802的其他跡線(xiàn)在pcb的相反側(cè)上。在一些情況下，可以?xún)?yōu)化發(fā)射線(xiàn)圈以使其相對(duì)于接收線(xiàn)圈盡可能對(duì)稱(chēng)，同時(shí)小化所需空間。圖8a示出通孔814和通孔816，它們?cè)试S將發(fā)射線(xiàn)圈802的跡線(xiàn)連接在pcb的側(cè)面之間。如圖8a和圖8b進(jìn)一步所示，接收線(xiàn)圈包括余弦定向線(xiàn)圈804和正弦定向線(xiàn)圈806。余弦定向線(xiàn)圈804包括通孔818，其允許余弦定向線(xiàn)圈804的導(dǎo)線(xiàn)跡線(xiàn)從pcb的一側(cè)過(guò)渡到另一側(cè)。類(lèi)似地，正弦定向線(xiàn)圈806包括通孔820，高速傳感器線(xiàn)圈廠家直供，其允許在pcb的側(cè)面之間過(guò)渡正弦定向線(xiàn)圈806的布線(xiàn)。線(xiàn)圈布局800中包括的另一個(gè)特征是阱808、810和812的增加，這些阱進(jìn)一步補(bǔ)償由發(fā)射線(xiàn)圈802生成的場(chǎng)的不均勻性以及由該不均勻性生成的所得偏移誤差。如線(xiàn)圈設(shè)計(jì)800中所示，提供阱808和阱810來(lái)調(diào)整正弦定向線(xiàn)圈804，并設(shè)置阱812來(lái)調(diào)整余弦定向線(xiàn)圈806。此外，可以提供通孔822和通孔824，高速傳感器線(xiàn)圈廠家直供，使得阱808和阱812的跡線(xiàn)可以分別在pcb的任一側(cè)上。阱808、阱810和阱812可以例如補(bǔ)償由于發(fā)射線(xiàn)圈802生成的場(chǎng)中的不均勻性而引起的接收線(xiàn)圈804和接收線(xiàn)圈806中的偏差。圖9a，高速傳感器線(xiàn)圈廠家直供、圖9b和圖9c示出根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例的另一種線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。國(guó)產(chǎn)傳感器線(xiàn)圈，無(wú)錫東英電子有限公司。高速傳感器線(xiàn)圈廠家直供

    金屬目標(biāo)與多個(gè)線(xiàn)圈中的每個(gè)線(xiàn)圈之間可以是不同的耦合效果。這些和其他因素可能導(dǎo)致位置定位系統(tǒng)的不準(zhǔn)確的結(jié)果。因此，需要開(kāi)發(fā)更好的設(shè)計(jì)傳感器線(xiàn)圈的方法，其為位置感測(cè)提供更好的準(zhǔn)確度。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：在一些實(shí)施例中，提供了一種線(xiàn)圈設(shè)計(jì)系統(tǒng)。具體地，提出一種提供經(jīng)優(yōu)化的位置定位傳感器線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的方法。該方法包括：接收線(xiàn)圈設(shè)計(jì)；利用該線(xiàn)圈設(shè)計(jì)對(duì)位置確定進(jìn)行仿真，以形成仿真性能；將仿真響應(yīng)與規(guī)范進(jìn)行比較以提供比較；以及基于仿真性能和性能規(guī)范之間的比較來(lái)修改線(xiàn)圈設(shè)計(jì)，以獲得更新的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。下文結(jié)合附圖討論這些和其他實(shí)施例。附圖說(shuō)明圖1a和圖1b示出用于確定目標(biāo)的位置的線(xiàn)圈系統(tǒng)。圖2a、圖2b、圖2c、圖2d和圖2e示出在整個(gè)線(xiàn)圈系統(tǒng)上掃描金屬目標(biāo)時(shí)的線(xiàn)圈的響應(yīng)。圖3a和圖3b示出線(xiàn)圈系統(tǒng)中的印刷電路板上的接收線(xiàn)圈的配置。圖3c示出由線(xiàn)圈系統(tǒng)中的發(fā)射線(xiàn)圈生成的電磁場(chǎng)的非均一性。圖3d和圖3e示出由線(xiàn)圈系統(tǒng)中的線(xiàn)圈測(cè)量的場(chǎng)的差異。圖4a示出測(cè)試位置定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確性的測(cè)試設(shè)備的框圖。圖4b示出諸如圖4a所示的測(cè)試設(shè)備。圖4c示出利用圖4b所示的測(cè)試設(shè)備來(lái)測(cè)試位置定位系統(tǒng)。遼寧傳感器線(xiàn)圈優(yōu)勢(shì)傳感器線(xiàn)圈分類(lèi)，無(wú)錫東英電子有限公司。

    根據(jù)這些場(chǎng)，仿真當(dāng)前線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的接收線(xiàn)圈的響應(yīng)。根據(jù)接收線(xiàn)圈響應(yīng)，將根據(jù)接收線(xiàn)圈響應(yīng)計(jì)算出的金屬目標(biāo)的位置與仿真過(guò)程中設(shè)定的金屬目標(biāo)的位置進(jìn)行比較。在步驟706中，將仿真的位置與金屬目標(biāo)的設(shè)定位置進(jìn)行比較。在步驟708中，如果滿(mǎn)足規(guī)范，則算法700進(jìn)行到步驟710，在步驟710處輸出終的優(yōu)化線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。在步驟708中，如果不滿(mǎn)足規(guī)范，則算法700進(jìn)行到步驟712。在步驟712中，根據(jù)來(lái)自步驟704的仿真結(jié)果和步驟706中的比較來(lái)調(diào)整pcb上的線(xiàn)圈的設(shè)計(jì)，以提高終設(shè)計(jì)的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性。在一些實(shí)施例中，發(fā)射器線(xiàn)圈設(shè)計(jì)保持固定，作為步驟702中的輸入，并且調(diào)整線(xiàn)圈設(shè)計(jì)和布局以提高準(zhǔn)確性。在一些實(shí)施例中，還可以調(diào)整發(fā)射器線(xiàn)圈以提高準(zhǔn)確性。圖7a中所示的算法700得到線(xiàn)圈設(shè)計(jì)，該線(xiàn)圈設(shè)計(jì)用于印刷在具有在步驟702中出現(xiàn)的規(guī)范輸入期間所指定的仿真準(zhǔn)確性的印刷電路板上。圖7b示出用于驗(yàn)證線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的算法720，該線(xiàn)圈設(shè)計(jì)可以是由圖7a中的算法700產(chǎn)生的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。如圖7b所示，在步驟722中輸入線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。線(xiàn)圈設(shè)計(jì)可以是較舊的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)，可以是新設(shè)計(jì)，或者可以是由如圖7a所示的算法700產(chǎn)生的。在步驟724，對(duì)線(xiàn)圈設(shè)計(jì)執(zhí)行仿真。在線(xiàn)圈設(shè)計(jì)輸入是由算法700產(chǎn)生的一些情況下。

    將位置設(shè)置為掃描中的當(dāng)前定義的位置。在步驟1006中，確定由發(fā)射線(xiàn)圈生成的電磁場(chǎng)。利用在步驟1002中提供的其他參數(shù)來(lái)接收發(fā)射線(xiàn)圈的驅(qū)動(dòng)電壓和操作頻率。一旦確定了來(lái)自發(fā)射線(xiàn)圈的電磁場(chǎng)，在步驟1008中就可以確定由于這些場(chǎng)而在金屬目標(biāo)中生成的渦電流。根據(jù)渦電流，可以仿真由目標(biāo)生成的磁場(chǎng)。在步驟1010中，確定由于由發(fā)射線(xiàn)圈生成的場(chǎng)和由金屬目標(biāo)中的感應(yīng)渦電流生成的場(chǎng)的組合而在線(xiàn)圈中生成的電壓。在步驟1011中，針對(duì)目標(biāo)的現(xiàn)行位置再次執(zhí)行電感l(wèi)的計(jì)算，以評(píng)估l相對(duì)于步驟1003的結(jié)果的變化。在步驟1012中，存儲(chǔ)響應(yīng)數(shù)據(jù)以供將來(lái)參考。在步驟1014中，算法704進(jìn)行檢查以查看掃描是否已經(jīng)完成。如果未完成，則算法704進(jìn)行到步驟1018，在步驟1018處，金屬目標(biāo)的當(dāng)前位置遞增，然后進(jìn)行到步驟1004，在步驟1004處開(kāi)始對(duì)該位置的仿真。如果掃描完成，則算法704進(jìn)行到步驟1016，在步驟1016處，仿真結(jié)束，并且算法返回到圖7a所示的算法700的步驟706。仿真和根據(jù)仿真對(duì)線(xiàn)圈的重新配置(在圖7a中，仿真步驟704、比較步驟706、決策步驟708和設(shè)計(jì)調(diào)整步驟712)應(yīng)足夠快，以在短時(shí)間段內(nèi)測(cè)試大量的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)配置。在通過(guò)算法700獲得經(jīng)優(yōu)化的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)之前。微型傳感器線(xiàn)圈，無(wú)錫東英電子有限公司。

    以確保仿真與物理測(cè)量的屬性相匹配。無(wú)論目標(biāo)是優(yōu)化還是重新設(shè)計(jì)pcb上的舊線(xiàn)圈設(shè)計(jì)，或者無(wú)論目標(biāo)是沒(méi)計(jì)還是優(yōu)化pcb上的新線(xiàn)圈設(shè)計(jì)，該過(guò)程都有助于優(yōu)化線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。可以根據(jù)算法720驗(yàn)證pcb上的現(xiàn)有線(xiàn)圈設(shè)計(jì)，并根據(jù)算法700進(jìn)行潛在地改進(jìn)該線(xiàn)圈設(shè)計(jì)?？梢允褂秒娮釉O(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)或計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(cad)系統(tǒng)例如以gerber格式提取現(xiàn)有的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。在一些實(shí)施例中，可以以gerber格式執(zhí)行算法700的步驟702或算法720的步驟722中的初始線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的輸入。步驟710中的輸出設(shè)計(jì)也可以是gerber格式。gerber格式通常用在cad/cam系統(tǒng)中，以及用于表示印刷電路板設(shè)計(jì)的系統(tǒng)，并且可以從加利福尼亞州舊金山的ucamcousa獲得。這樣，可以從現(xiàn)有印刷電路板上提取現(xiàn)有設(shè)計(jì)，并在步驟722中將其提供給算法720以進(jìn)行驗(yàn)證，或者在步驟702中將其提供給算法700。這樣，如上所述，可以在步驟724中執(zhí)行對(duì)現(xiàn)有設(shè)計(jì)的執(zhí)行，并且在步驟728中測(cè)量實(shí)際性能?？梢栽诓襟E730中比較仿真的響應(yīng)和測(cè)量到的響應(yīng)，并且在步驟732中驗(yàn)證系統(tǒng)。如上所述，在步驟728中測(cè)量響應(yīng)可以包括從起點(diǎn)到終點(diǎn)以恒定的氣隙掃描金屬目標(biāo)?？梢允褂孟嗤膒cb設(shè)計(jì)、相同的氣隙和相同的目標(biāo)運(yùn)行仿真。被稱(chēng)為驗(yàn)證過(guò)程的這個(gè)過(guò)程。傳感器線(xiàn)圈芯，無(wú)錫東英電子有限公司。江西傳感器線(xiàn)圈對(duì)比價(jià)

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    對(duì)于理解仿真是否正確執(zhí)行以及仿真是否反映設(shè)計(jì)中存在的所有非理想性是非常重要的。一旦驗(yàn)證了正確仿真pcb上發(fā)線(xiàn)圈的能力，便可以將現(xiàn)有設(shè)計(jì)輸入到算法700的步驟702，并以提高得到的位置定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確性(例如，偏差和非線(xiàn)性)的方式進(jìn)行修改。該方法可以在圖7a的步驟704、步驟706、步驟708和步驟712所示的迭代算法中自動(dòng)完成，并且在步驟704中使用仿真代碼和在步驟712中使用線(xiàn)圈設(shè)計(jì)代碼以收斂于優(yōu)設(shè)計(jì)。然后可以在eda工具的幫助下，將在步驟710中輸出的經(jīng)改進(jìn)的設(shè)計(jì)線(xiàn)圈印刷在pcb上。可以以與實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有設(shè)計(jì)非常相同的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)全新的設(shè)計(jì)。具體地，可以將新設(shè)計(jì)輸入到算法700的步驟702，并且可以執(zhí)行算法700以?xún)?yōu)化線(xiàn)圈設(shè)計(jì)。然后可以將在算法700的步驟710中輸出的經(jīng)優(yōu)化的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)輸入到算法720，并且可以實(shí)際產(chǎn)生該設(shè)計(jì)以進(jìn)行測(cè)試。如上所述，算法720然后可以驗(yàn)證經(jīng)優(yōu)化的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的操作。算法700的步驟712中執(zhí)行的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)工具可用于根據(jù)在步驟704中由仿真工具執(zhí)行的仿真，使用步驟712的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)工具來(lái)設(shè)計(jì)pcb上的正弦和余弦的幾何形狀。如算法700所示的用于優(yōu)化線(xiàn)圈設(shè)計(jì)的迭代算法包括步驟704中的仿真工具和步驟712中的線(xiàn)圈設(shè)計(jì)工具。具體地。高速傳感器線(xiàn)圈廠家直供

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